Occasion HITACHI S-3500 #9286928 à vendre en France

HITACHI S-3500 Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument compact à haute performance offrant des capacités d'imagerie et d'analyse à fort grossissement. La capacité d'imagerie numérique haute résolution de S-3500 SEM permet de caractériser la morphologie et la composition de la surface. Avec sa superbe stabilité focale, il est l'instrument idéal pour produire des images de haute qualité avec des mesures précises. HITACHI S-3500 SEM dispose d'une source d'électrons à émission de champ avec une tension d'accélération de 0,2 à 30 kV. Cette irradiation à faisceau bas la rend idéale pour l'imagerie à fort grossissement pour l'imagerie et l'analyse analytiques à haute résolution. S-3500 SEM possède également un objectif corrigé de l'aberration chromatique élevée et une colonne basse tension pour réduire l'aberration de la lentille. Ces caractéristiques rendent HITACHI S-3500 SEM idéal pour observer les isolants, les polymères et les échantillons non conducteurs. S-3500 comprend également plusieurs systèmes d'imagerie et d'analyse, dont un détecteur d'électrons secondaires à pression variable (SE) de type Everhatt, un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) de type cataclysmique, un système d'imagerie électronique secondaire/canon stable, une commande de rétrodiffusion et les multiplicateurs d'électrons de signaux SEM. Ces systèmes d'imagerie et d'analyse permettent une résolution supérieure, des capacités d'imagerie sous vide et la capacité d'évaluer la microstructure et la composition de surface. En outre, HITACHI S-3500 comprend un système de focalisation automatique et une commande de faisceau à balayage haute tension, qui permettent l'acquisition précise et précise d'images. Un contrôle automatique de la luminosité et du contraste de l'image permet d'optimiser la qualité de l'image. Le système comprend également un adaptateur d'échantillon de champ, qui fournit un alignement précis et facile de l'échantillon. S-3500 SEM comprend également le logiciel EverView, qui fournit une interface utilisateur graphique intuitive et facile à utiliser. Ce logiciel permet la mesure, l'analyse et l'optimisation des images, faisant de HITACHI S-3500 le choix idéal pour les applications avancées d'image et d'analyse. S-3500 SEM est un instrument avancé et performant pour capturer l'imagerie et l'analyse à haute résolution des objets des échelles de sous-microns au millimètre. La stabilité et la fiabilité, combinées à des systèmes d'imagerie et d'analyse avancés, font de HITACHI S-3500 un outil idéal pour toute application nécessitant une imagerie et une analyse haute performance.