Occasion HITACHI S-3500H #9208243 à vendre en France

HITACHI S-3500H est un microscope électronique à balayage (SEM) développé par HITACHI High-Technologies Corporation. Il offre un haut degré de précision d'imagerie, fournissant une résolution allant jusqu'à 0,5 nanomètres et une taille d'image allant jusqu'à 20mm. Les capacités avancées de traitement du signal numérique de l'instrument contribuent à sa qualité d'image exceptionnelle. En outre, ses fonctionnalités polyvalentes et ses fonctionnalités technologiques avancées facilitent le fonctionnement de l'utilisateur, l'aidant à obtenir des données plus fiables et précises. L'instrument est équipé d'un équipement de traitement du signal numérique et d'un système d'imagerie numérique à haute sensibilité qui permet la capture d'image même à de faibles niveaux de grossissement. Pour l'irradiation des échantillons, l'unité utilise un canon à électrons à émission de champ (FEG) pour fournir des faisceaux d'électrons de haute luminosité pour améliorer la résolution et améliorer le contraste. En outre, la machine est conçue pour être facile à utiliser, avec un outil semi-automatisé avec une architecture matérielle ouverte pour un alignement rapide et précis des objectifs. Cela permet à l'utilisateur d'obtenir rapidement des images plus précises avec un niveau de détail plus élevé. Pour l'exploitation, l'actif comprend un nombre accru de paramètres pour explorer la topographie de surface d'un objet ou d'un matériau, sans interférence de facteurs environnementaux. Le modèle est capable de recueillir des informations spectrales à partir de spécimens à différents grossissements, ce qui fournit des capacités d'imagerie améliorées. Ceci permet également à l'utilisateur d'identifier différents éléments présents dans l'échantillon. Grâce à ses capacités de grossissement élevées, l'instrument est capable d'analyser efficacement l'imagerie de caractéristiques nanométriques telles que celles que l'on trouve sur les circuits intégrés et autres composants mécaniques à échelle fine. Le logiciel de l'instrument a une interface conviviale et est équipé d'un équipement de contrôle sophistiqué qui offre aux utilisateurs une large gamme de fonctions de contrôle et permet aux utilisateurs de personnaliser les paramètres. De plus, le système peut utiliser des méthodes d'analyse quantitative pour produire des images plus précises. Le mode de soustraction avancé permet à l'utilisateur de supprimer les artefacts et le bruit inutiles, améliorant ainsi la précision globale. L'unité dispose également d'une large gamme d'options de mesure automatique qui comprennent, sans s'y limiter, des mesures de surface, de longueur et de position. Le SEM bénéficie également d'une machine automatisée de traitement et de navigation des échantillons, qui facilite la commutation rapide et facile des échantillons, réduisant grandement le temps nécessaire à la configuration et au fonctionnement. En outre, l'outil est intégré à un écran 3D pour une visualisation facile de structures d'échantillons 3D compliquées, aidant l'utilisateur à acquérir des résultats d'imagerie précis. Enfin, l'instrument est compatible avec une variété d'accessoires tels que EDS, EBSD et CLEM, permettant à l'utilisateur d'optimiser davantage les performances de l'appareil. En conclusion, S-3500H fournit un large éventail de fonctions et de capacités pour améliorer la précision de l'imagerie et améliorer les images. Grâce à sa polyvalence et à sa technologie de pointe, l'instrument est capable de produire des images fiables de haute qualité qui peuvent être utilisées pour effectuer des analyses sophistiquées.