Occasion HITACHI S-3500N #9194718 à vendre en France

HITACHI S-3500N Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil puissant et flexible pour la recherche scientifique. Cet équipement de microscopie utilise un faisceau d'électrons au lieu de la lumière pour produire une image. C'est un instrument de qualité industrielle qui peut créer des images haute résolution de spécimens microscopiques, avec grossissement jusqu'à 5000x. S-3500N est conçu pour accueillir un large éventail d'échantillons de tailles, de matériaux et de formes. La chambre peut accueillir des échantillons jusqu'à 65 mm de diamètre et 45 mm de hauteur. L'alignement de l'échantillon est facilité par un réglage de l'étage jusqu'à 4 °. L'échantillon Sample Chamber est équipé d'un SEM à pression variable (VP-SEM) qui permet un fonctionnement sous vide et améliore la résolution des images. Les performances d'imagerie de ce système sont soutenues par un certain nombre de caractéristiques, telles que les technologies avancées de traitement du signal et les détections améliorées de signal. Il s'agit d'un large éventail de types de signaux électroniques, y compris un mode d'imagerie électronique secondaire, l'imagerie électronique rétrodiffusée et la détection de signaux de rayons X. L'unité dispose également d'un détecteur d'ESB de haute précision avec un revêtement détecteur et une caméra CCD ultra haute résolution. Cette machine est également équipée d'un ESEM double axe, qui permet à la fois des capacités d'inclinaison et de rotation. Les fonctions d'inclinaison et de rotation permettent la collecte d'images multiples avec des perspectives différentes dans un seul balayage à haute résolution. La topographie du spécimen peut être enregistrée même à de faibles grossissements. De plus, le mode d'imagerie à double fonction améliore considérablement les images et permet les observations 3D. HITACHI S-3500N est également en mesure d'effectuer un large éventail d'analyses qualitatives et quantitatives, y compris l'identification et l'analyse automatisées d'images, l'analyse granulométrique et l'identification élémentaire. Le logiciel d'analyse intégré permet une analyse d'image puissante et non destructive, comme la segmentation, la détection, la mesure et l'intégration d'images à échelle fine. Ce microscope a également été conçu pour répondre aux besoins de sécurité d'une variété de recherches et d'applications industrielles. Certaines caractéristiques de sécurité notables comprennent des dispositifs de sécurité haute tension et des interrupteurs de limitation, l'émission de faisceau d'électrons à démarrage doux, et une variété de capacités de stockage de mémoire.