Occasion HITACHI S-3500N #9242550 à vendre en France

HITACHI S-3500N Scanning Electron Microscope offre des performances d'imagerie haut de gamme, permettant aux chercheurs et aux ingénieurs de visualiser et d'analyser de très petites particules avec une précision sans précédent. Sa technologie de combinaison de faisceaux offre une clarté et une résolution d'image supérieures, ce qui permet aux utilisateurs de regarder de près et en détail les échantillons. S-3500N dispose également d'une variété de capacités d'imagerie numérique, y compris l'imagerie automatisée, faisceau intelligent, piquage d'images, reconstruction 3D, et plus encore. HITACHI S-3500N utilise une caméra Schimidt pour obtenir toute sa puissance d'imagerie. C'est un type particulier de méthode d'imagerie qui produit des images extrêmement précises avec des performances plus élevées que les SEM traditionnels. Il utilise une combinaison de faisceaux d'électrons à balayage pour permettre la détection de 8 et 12 bits, ce qui donne une résolution incroyablement élevée jusqu'à 5 milliards de points par pouce (5 nanomètres). Cela signifie que les utilisateurs peuvent inspecter des détails très fins dans l'échantillon. S-3500N utilise une optique avancée pour fournir un contraste et une luminosité plus élevés, parfait pour étudier des matériaux difficiles tels que les matériaux semi-conducteurs ou la fibre de carbone. Avec un grand champ de vision pouvant atteindre 18cm2 et des images haute résolution, les utilisateurs peuvent facilement capturer des détails de structures complexes. Un des points saillants de ce microscope électronique à balayage est sa capacité à mesurer avec précision la topographie de surface au niveau du nanomètre. Cela peut être très utile pour obtenir des données de mesure fiables sur de très petits échantillons. Il dispose d'algorithmes de correction et de correction de niveau automatique pour garantir des mesures précises. HITACHI S-3500N est également équipé de la technologie Smart SEM la plus récente pour garantir un maximum d'efficacité et de commodité, permettant aux utilisateurs d'automatiser les processus de flux de travail. Cela comprend une interface utilisateur intuitive, un positionnement automatisé des échantillons et un piquage automatisé des images. Avec sa capacité de programmation SEM avancée, S-3500N peut également être utilisé pour des fonctions avancées telles que la reconstruction 3D et le traitement automatisé. Dans l'ensemble, HITACHI S-3500N Scanning Electron Microscope est un outil incroyablement puissant pour les chercheurs et les ingénieurs, leur donnant la capacité de pouvoir analyser de très petites particules avec une précision sans précédent. Il fournit des capacités d'imagerie avancées et permet aux utilisateurs d'obtenir un examen détaillé des échantillons avec une résolution et un contraste plus élevés. Il dispose également d'une variété de fonctions d'automatisation pour faciliter les tâches compliquées.