Occasion HITACHI S-3500N #9291860 à vendre en France

HITACHI S-3500N est un microscope électronique à balayage à haute résolution (SEM) largement utilisé pour un large éventail d'applications dans la recherche universitaire et industrielle. Il est équipé d'un certain nombre de caractéristiques qui le rendent idéal pour examiner la microstructure d'une variété de matériaux, y compris les métaux, les polymères, la céramique et les composites. La fonction principale de S-3500N SEM est de produire des images de surfaces avec des résolutions aussi élevées que 2.5nm. Le SEM utilise un filament de tungstène pour créer le faisceau d'électrons qui est focalisé sur l'échantillon analysé. L'échantillon est ensuite balayé à travers l'étage de visualisation, les électrons rétrodiffusés ou secondaires étant collectés et détectés par un détecteur d'électrons. Le SEM peut être utilisé pour agrandir l'image jusqu'à 30kx. HITACHI S-3500N est également équipé d'un détecteur de rayons X dispersifs d'énergie (EDS) qui permet une analyse élémentaire de l'échantillon analysé. Ce détecteur EDS est capable de détecter un large éventail d'éléments, y compris des éléments légers tels que le bore et le chlore, ainsi que des éléments lourds tels que l'uranium et le plomb. L'information d'analyse élémentaire est ensuite utilisée pour créer des cartes élémentaires qui permettent aux chercheurs d'obtenir d'autres informations sur le matériel. S-3500N dispose également d'une gamme de fonctionnalités automatisées telles que la commande de mise au point automatisée et la correction de l'inclinaison de scène qui permet à l'utilisateur d'obtenir rapidement des images claires. Le SEM dispose également d'un auto-stigmate qui permet une imagerie précise et précise. La meilleure caractéristique de HITACHI S-3500N SEM est sa capacité à créer des images à très haute résolution avec un faible bruit. Cela permet aux chercheurs d'obtenir des informations précieuses sur la microstructure des matériaux étudiés. Le SEM dispose également d'une interface conviviale qui le rend facile à utiliser. En conclusion, S-3500N est un puissant microscope électronique à balayage qui est idéal pour analyser la microstructure d'une gamme de matériaux. Il est équipé d'un certain nombre de caractéristiques, dont un système automatisé de correction de la focalisation et de l'inclinaison des étages, un détecteur de rayons X dispersifs d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire, et un auto-stigmatisateur pour l'imagerie précise et précise. HITACHI S-3500N peut créer des images avec des résolutions allant jusqu'à 2,5 nm, ce qui en fait un outil parfait pour les chercheurs à la recherche de résultats détaillés.