Occasion HITACHI S-3500N #9411750 à vendre en France
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ID: 9411750
Style Vintage: 2000
Scanning Electron Microscope (SEM)
HORIBA EMAX 550 EDS
HORIBA X-Ray
Backscatter detector
Motorized stage
Water cooler
(2) PC
Operating system: Windows 7
2000 vintage.
HITACHI S-3500N est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir des capacités de balayage et d'imagerie pour les analystes, les chercheurs et les scientifiques dans le domaine nanométrique. Il est capable de réaliser des grossissements jusqu'à 800kX et a une résolution théorique maximale de 1,4 nm en mode de balayage classique. S-3500N est idéal pour les échantillons dans un large éventail de domaines, y compris les semi-conducteurs, le stockage de données et les applications des sciences de la vie. Le SEM fonctionne avec un détecteur de rayons X à haute résolution et à dispersion d'énergie qui a été intégré à un équipement standard. Le microscope est capable de produire des images d'échantillons à haute résolution et peut détecter des particules jusqu'à 0,037 nm. Il utilise un détecteur de rétrodiffusion pour produire des images de contraste élevé et est équipé d'un canon primaire basse tension amélioré qui est capable de détecter des échantillons avec un faible taux de charge et de fournir une image lumineuse et de haute qualité. HITACHI S-3500N fournit également un système d'alignement automatisé, permettant une préparation facile des spécimens pour le balayage. Le microscope est capable de régler automatiquement les paramètres d'alignement et de compenser les distorsions de surface qui peuvent être présentes dans l'échantillon. Cela garantit que l'image est aussi précise et claire que possible. De plus, le microscope peut recueillir un large éventail d'informations sur l'échantillon, y compris la composition, la topographie de surface et la structure tridimensionnelle. S-3500N est également équipé d'un large éventail de modes de fonctionnement et de fonctions, permettant à l'utilisateur d'ajuster facilement les paramètres pour acquérir la meilleure image possible de l'échantillon. Il dispose également d'un moniteur de distance de travail pour alerter l'utilisateur de toute collision potentielle pendant le fonctionnement, assurant des opérations sûres et précises. Pour faciliter l'utilisation et la maintenance, HITACHI S-3500N est également équipé d'une unité de chargement automatisée des échantillons et d'une variété de fonctions de surveillance diagnostique. Le SEM comprend également un logiciel de visualisation micrographique, permettant à l'utilisateur d'analyser et de manipuler rapidement des images directement au microscope. En outre, le microscope comprend une variété de profils d'utilisateurs personnalisables, permettant aux utilisateurs de configurer le microscope à leurs besoins spécifiques. Dans l'ensemble, S-3500N est un microscope électronique à balayage fiable et polyvalent qui offre une excellente qualité d'image et des caractéristiques de pointe. Il est idéal pour les chercheurs et les scientifiques travaillant dans divers domaines et fournit une machine de chargement automatisé des échantillons, un large éventail de modes de fonctionnement, et un outil d'alignement automatisé pour l'imagerie précise des échantillons nanométriques.
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