Occasion HITACHI S-3600N #9314101 à vendre en France
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ID: 9314101
Scanning Electron Microscope (SEM)
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PC and Desk
Operating system: Windows XP.
HITACHI S-3600N est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre une capacité d'imagerie haute performance. Il est équipé d'un multiplicateur d'électrons Schottky (SEM) et d'un détecteur de rayons X dispersifs de longueur d'onde pour produire une haute résolution et une analyse quantitative des caractéristiques et de la composition de la surface. S-3600N a une distance de travail impressionnante allant jusqu'à 50 mm, ce qui offre une grande souplesse dans la visualisation et l'analyse des spécimens. La gamme de tension haute tension de 0,1 kV à 30 kV offre une qualité d'image et des limites de détection supérieures pour permettre une analyse détaillée des caractéristiques nano-échelle. HITACHI S-3600N a une large gamme de tailles d'échantillons pouvant accueillir des échantillons jusqu'à 300mm de diamètre. Le filtre d'énergie dans la colonne est capable jusqu'à 10 μ s/canal temps de séjour de sorte que même des particules extrêmement petites peuvent être détectées et observées. S-3600N a un spectre complet de modes d'imagerie qui permettent l'imagerie de caractéristiques de surface standard et complexes. L'imagerie électronique secondaire (SEI), l'imagerie électronique rétrodiffusée (BSEI), la diffraction électronique rétrodiffusée (BED), l'émission de rayons X, le courant induit par le faisceau électronique (EBIC) et la spectroscopie par faisceau électronique (EBS) peuvent tous être utilisés pour la caractérisation standard et non destructive. HITACHI S-3600N utilise une gamme de détecteurs qui comprennent un détecteur d'électrons secondaire, plusieurs détecteurs de rayons X, filtre d'énergie, et un détecteur de réseau pour EBSD. Ces détecteurs fournissent des analyses quantitatives de caractéristiques de surface telles que la structure cristalline et la composition chimique. La chambre haute dépression de S-3600N est peu entretenue et produit des images avec un faible bruit et une stabilité de trajectoire du faisceau d'électrons. Le système intégré d'amortissement des vibrations réduit les instabilités d'imagerie et fournit des images haute résolution sans alignement supplémentaire. Il dispose d'un alignement de lentille EasyBeam qui permet aux utilisateurs d'aligner rapidement et avec précision le faisceau d'électrons sur l'échantillon. HITACHI S-3600N offre un fonctionnement pratique grâce au grand moniteur LCD lumineux de 10,4 pouces, au contrôle d'un joystick tactile et aux touches chaudes Ez-Navigation. Il est alimenté par un processeur Intel Xeon haute vitesse et une électronique de pointe qui fournissent un fonctionnement robuste et fiable. S-3600N offre une combinaison impressionnante de fonctionnalités avancées et de capacités d'imagerie, ce qui en fait un choix idéal pour l'imagerie électronique et l'analyse de surface dans la recherche en sciences des matériaux. Ce système fournit une solution puissante mais économique pour les applications d'imagerie haute résolution.
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