Occasion HITACHI S-3700N #293648335 à vendre en France

HITACHI S-3700N est un microscope électronique à balayage (SEM) qui permet aux utilisateurs d'étudier des échantillons à un fort grossissement. Il fournit des images d'un échantillon à travers un faisceau d'électrons qui balaye la surface de l'échantillon. Le grossissement possible avec HITACHI S 3700 N peut atteindre 3.000.000x, ce qui est idéal pour examiner les structures microscopiques. L'équipement comprend l'unité SEM principale et l'étage d'échantillonnage, qui est monté sous l'unité. L'unité SEM comprend un contrôleur programmable, un canon à électrons et des détecteurs, ainsi qu'un panneau de commande principal avec des panneaux de fonctionnement et d'affichage. L'étape d'échantillonnage est conçue pour accueillir un éventail de types d'échantillons, y compris des échantillons plats, des particules et des échantillons fixes, en contrôlant la hauteur de l'échantillon. De plus, l'étage d'échantillonnage comporte une chambre à pression variable pour les applications sous vide, et un étage à angle variable pour la visualisation inclinée. Le faisceau d'électrons généré par S-3700N est commandé par le panneau de commande principal. Le faisceau ajuste la résolution, le grossissement et le contraste de l'image, ainsi que le nombre de lignes balayées, la vitesse de balayage, et la vitesse à laquelle l'image est générée. En contrôlant ces paramètres, le faisceau peut être optimisé pour différents types d'échantillons. Le système de détection de S 3700 N est également très sensible. Le détecteur peut détecter des électrons diffusés par la surface de l'échantillon, ce qui permet une imagerie haute résolution. L'énergie des électrons diffusés est mesurée et analysée pour la composition élémentaire. Cela permet des capacités d'imagerie et d'analyse plus précises. HITACHI S-3700N dispose également d'une unité d'isolation sous vide qui élimine l'air de l'environnement d'imagerie, ce qui améliore la qualité de l'image. La machine dispose également d'un outil d'isolation des vibrations qui limite le mouvement et améliore l'intégrité des échantillons. Dans l'ensemble, HITACHI S 3700 N est un microscope électronique à balayage avancé qui convient bien à la recherche scientifique et industrielle. Ses systèmes avancés d'optique électronique et de détection, associés à ses capacités de haute résolution et de grossissement, en font un excellent choix pour une grande variété d'applications.