Occasion HITACHI S-3700N #293797824 à vendre en France

ID: 293797824
Style Vintage: 2009
Scanning Electron Microscope (SEM) OXFORD X-Max 80mm² EDX 2009 vintage.
HITACHI S-3700N est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie submicronique à haute résolution. Il dispose d'une conception de colonne sous vide thermiquement et vibrationnellement stable, ultra-haute qui est idéal pour la résolution micron et submicronique. Ce SEM utilise des détecteurs électroniques classiques de rétrodiffusion et secondaires qui sont optimisés pour fournir un contraste et une résolution d'image maximum. HITACHI S 3700 N utilise des capacités de traitement d'image numérique pour fournir un contraste d'image supplémentaire et l'amélioration de la couleur. S-3700N est également conçu avec une haute tension d'accélération, lui permettant d'atteindre des images à plus haute résolution sans risque d'endommager des échantillons délicats. Ses capacités d'imagerie haute tension, ainsi que de faibles performances sonores et le traitement avancé des images numériques, lui permettent de capturer des images très détaillées de différents types de matériaux. S 3700 N dispose également d'une option d'étape automatisée pour faciliter le processus d'acquisition de topographies. Cette fonctionnalité permet aux utilisateurs de numériser rapidement de grandes zones d'un échantillon avec moins d'entrées utilisateur. Le système dispose également d'une fonction de mise au point automatisée qui permet à l'utilisateur d'obtenir des images de petits échantillons biologiques ou chimiques avec des niveaux de détail plus élevés. HITACHI S-3700N utilise également des techniques d'imagerie avancées, telles que la microscopie électronique à transmission à balayage (STEM) pour fournir un contraste supplémentaire dans certains échantillons. La microscopie à ondes stationnaires est également disponible pour des mesures précises de la structure de surface à l'intérieur d'un échantillon. L'imagerie simultanée de SEM et STEM permet à l'utilisateur d'acquérir rapidement et facilement des images topographiques et compositionnelles du même échantillon. Pour plus de commodité, HITACHI S 3700 N est équipé d'une caméra de performance améliorée qui peut capturer à la fois des images de champ sombre et de champ lumineux. Son logiciel de pointe offre des interfaces graphiques conviviales pour aider à organiser et à analyser les données acquises. Le logiciel système est également capable d'analyse et de traitement automatisés des données, permettant aux utilisateurs d'analyser efficacement les échantillons. S-3700N est largement utilisé dans des domaines tels que l'analyse des défaillances, l'analyse des dispositifs semi-conducteurs, la science des matériaux et la recherche biologique. Avec ses capacités d'imagerie avancées et ses logiciels avancés, le S 3700 N est un outil idéal pour les chercheurs dans ces domaines d'étude.
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