Occasion HITACHI S-3700N #9350985 à vendre en France

HITACHI S-3700N est un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM) capable de produire des images visuelles de détails ultra fins avec une résolution de 0,5 nanomètres. Il utilise un puissant canon à électrons pour émettre un faisceau focalisé d'électrons qui balayent une surface d'échantillon, créant une image électro-optique haute résolution. HITACHI S 3700 N est livré avec un équipement de contrôle informatique multicollecteur et une variété de logiciels pour assurer des images précises et claires. Ce SEM utilise une ouverture de focalisation de 0,3 mm combinée à une étape de pression variable (VP) pour la manipulation d'échantillons à pression variable. L'étage de pression variable permet à l'utilisateur d'ajuster l'exposition de l'échantillon au faisceau d'électrons afin d'observer différentes profondeurs et niveaux de détail. S-3700N est également capable d'imagerie électronique secondaire (SEI) et de détection in-lens (ILD). SEI produit des images de détails de surface à plus haute résolution en détectant les électrons réfléchis à partir des caractéristiques de la surface de l'échantillon. ILD produit des images de caractéristiques de surface aussi petites que 10 nm. Le S 3700 N est équipé d'un système de contrôle de balayage automatisé qui permet aux utilisateurs de choisir leur mode de balayage préféré, leur grossissement et leur temps d'exposition. Cette unité peut produire des résolutions d'image statiques (fixes) ou dynamiques (réglables) en fonction des besoins de l'utilisateur. Le SEM comprend également une machine de focalisation automatisée et peut stocker jusqu'à 15 réglages de grossissement. HITACHI S-3700N nécessite un environnement à vide élevé et à température contrôlée pour produire efficacement des images. Sa tension d'accélération maximale est de 30kV et il est capable de produire des images d'échantillons de taille comprise entre 1mm et 3mm. En outre, le microscope peut manipuler des échantillons organiques et inorganiques de matériaux variés, y compris des métaux et des alliages. HITACHI S 3700 N a l'option d'une variété de logiciels d'analyse d'images qui peuvent être utilisés pour mesurer les angles, les zones et les distances. Des fonctionnalités telles que le comptage automatisé, la reconnaissance automatisée des motifs et la reconstruction 3D automatisée améliorent encore le potentiel d'analyse détaillée du microscope. Ces caractéristiques peuvent fournir des informations sur la composition de surface, la structure et la diffusion d'électrons. Dans l'ensemble, S-3700N est un SEM exceptionnellement équipé avec un faisceau d'électrons puissant, outil de contrôle informatique multicollection et une variété de logiciels d'analyse d'image. Il peut produire des images haute résolution d'échantillons entre 1mm et 3mm de taille, et il a la capacité d'analyser l'angle, les zones et les distances, ainsi que la reconstruction 3D automatisée. Ce SEM est idéal pour les chercheurs et les professionnels à la recherche d'un microscope électronique à balayage puissant et fiable.