Occasion HITACHI S-4100 #293634973 à vendre en France

HITACHI S-4100
ID: 293634973
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
HITACHI S-4100 est un microscope électronique à balayage (SEM) produit par HITACHI High Technologies pour la microanalyse de matériaux. Il dispose d'une gamme de fonctionnalités et de capacités de manipulation d'échantillons pour aider les utilisateurs à analyser une variété d'échantillons. S-4100 possède une profondeur de champ impressionnante et une grande profondeur de focalisation, permettant l'analyse d'échantillons à des grossissements inférieurs avec une profondeur étendue. Il possède également des capacités d'imagerie des électrons secondaires (SE) et des électrons rétrodiffusés (ESB), ce qui lui permet d'analyser des échantillons dans des conditions élevées et basses de kV. Le microscope est également livré avec auto-stigmatisation, ce qui facilite l'alignement rapide du faisceau et l'imagerie SE haute résolution, même avec des échantillons petits et featureless. La fonction auto-stig aide également à acquérir de plus grands agrandissements sur les images SE. HITACHI S-4100 offre une large gamme de fonctionnalités et de capacités conçues pour faciliter et accélérer le processus d'analyse des échantillons. Il est doté d'un système logiciel, le logiciel de visualisation, qui fournit une inspection visuelle efficace et précise en temps réel des échantillons non conducteurs et conducteurs. S-4100 comprend également un étage de spécimen entièrement automatisé et inclinable pour l'imagerie à faible grossissement, ainsi qu'un étage central X, Y, Z unique pour l'alignement et le positionnement des échantillons pour l'imagerie à fort grossissement. Cette étape centrale soutient également la cartographie EDS et l'analyse élémentaire EDX. La chambre HV magnétiquement blindée HITACHI assure un fonctionnement stable, même dans les environnements où le microscope est exposé aux vibrations et aux microphoniques. Il assure également la protection des échantillons contre la haute tension dans l'instrument. HITACHI S-4100 dispose également d'une gamme de fonctionnalités logicielles avancées qui peuvent être utilisées pour analyser les données et gagner du temps lors des mesures. Ces caractéristiques comprennent la numérisation, qui convertit les signaux analogiques en signaux numériques pour mesurer avec précision les données des échantillons. Il dispose également d'une fonction de balayage hélicoïdal qui permet de détecter des changements subtils dans les surfaces des échantillons en modifiant les paramètres de balayage. Dans l'ensemble, S-4100 est un excellent microscope électronique à balayage qui offre un large éventail de fonctionnalités, de capacités et de systèmes logiciels conçus pour aider les utilisateurs à effectuer leurs tâches de microanalyse rapidement et avec précision. Ses fonctions d'auto-stig et d'étage central permettent aux utilisateurs d'acquérir des images haute résolution à faible grossissement, tandis que son logiciel de numérisation numérique et de numérisation hélique fournit des mesures précises. La chambre HV à blindage magnétique assure également un fonctionnement stable et une protection des échantillons contre la haute tension.
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