Occasion HITACHI S-4100 #9093573 à vendre en France

HITACHI S-4100
ID: 9093573
Style Vintage: 1993
Field Emission Scanning Electron Microscope Acceleration voltage: 0.5 ~ 30kV Magnification: 20 to 300,000 times Sample size: φ100 × 23 (mm) Rotation: 360° Manual included Image Processor (EP-3000) Circulating cooling water system (W-4010) Ion sputtering apparatus (E-1030) Moving range: X: 0 ~ 25 (mm) Y: 0 ~ 25 (mm) Z: 5 ~ 30 (mm) Inclination: -5 to + 45° Optional: As accessory device 1993 vintage.
HITACHI S-4100 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui produit des images de la surface d'un échantillon en haute résolution. C'est un instrument polyvalent qui fournit un large éventail d'applications pour analyser les composants structurels, électroniques et chimiques des matériaux. S-4100 est un SEM de pointe qui se compose d'une unité de base, d'une colonne d'électrons, d'une chambre d'échantillonnage et d'une lentille de déflexion. Sa colonne électronique comporte deux parties principales : un canon à électrons et une lentille déflectrice. Le canon à électrons produit un faisceau d'électrons qui sont ensuite accélérés et focalisés sur la surface de l'échantillon. La lentille déflectrice dévie les électrons de l'échantillon et les ramène sur la plaque d'image, permettant un positionnement précis du faisceau. HITACHI S-4100 dispose également d'une variété de capacités d'imagerie qui permettent une analyse détaillée. Son mode d'imagerie par électrons secondaires (SE) produit des images de topographie et de structure de surface, tandis que son mode d'imagerie par électrons rétrodiffusés (ESB) produit des images de composition et de texture. Son mode de spectroscopie des rayons X dispersifs énergétiques (EDX) fournit des informations détaillées sur la composition élémentaire de l'échantillon. En outre, S-4100 dispose d'un étage automatisé pour des échantillons précisément déplacés de différentes tailles. Il permet d'utiliser différents modes de contraste pour différentes applications d'imagerie. Il dispose également d'un système de vide interne et d'un porte-échantillon qui permettent une préparation rapide et facile de l'échantillon. En outre, il est également compatible avec une gamme d'accessoires, tels qu'un faisceau ionique focalisé, ce qui lui permet d'analyser plus en détail les structures tridimensionnelles. HITACHI S-4100 dispose également d'une fonction de zoom automatisé qui facilite l'imagerie de précision. Dans l'ensemble, S-4100 est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent idéal pour une gamme d'applications de recherche, d'analyse et d'imagerie. Ses composants de pointe et ses capacités d'imagerie le rendent parfait pour maximiser la productivité et développer des résultats de recherche avancés.
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