Occasion HITACHI S-4100 #9215897 à vendre en France

HITACHI S-4100 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir une variété de capacités dans un large éventail d'applications. Il dispose d'une colonne optique spécialement conçue, ainsi que de l'imagerie numérique et du traitement d'image de pointe. Il est bien adapté à une variété de tâches, y compris la topographie de surface, la structure cristalline, la détermination de la taille et de la forme, l'analyse des défauts et l'analyse des défaillances. La colonne optique de pointe de S-4100 est constituée d'un pistolet à émission de champ (FEG) et de lentilles de condenseur SEM à haute résolution pour la sélection du volume d'interaction des échantillons du faisceau d'électrons. La FEG permet un faisceau d'électrons optimisé à n'importe quelle tension d'accélération jusqu'à 30 kV et une excellence dans la résolution de petites caractéristiques et de détails. Un système d'alignement amélioré améliore encore les performances des lentilles du condenseur SEM en assurant un alignement optimal sans aucun élément de réglage. HITACHI S-4100 est équipé d'une large gamme d'options d'imagerie. Il s'agit notamment du contraste d'image différentiel (DIC), de la microscopie opto-électronique combinée (OEM), de l'imagerie électronique secondaire (SE), de l'analyse spectroscopique des rayons X par rétrodiffusion (ESB) et de l'analyse spectroscopique par dispersion d'énergie. Des techniques d'imagerie spécialisées telles que l'analyse par faisceau cristallin (ABC), le mode de diagnostic rétrodiffusé (BDM) et le système secondaire de détection d'électrons synchroscan (SSEDS) sont également fournies. Les capacités avancées de traitement d'image sont également fournies avec S-4100. Ceux-ci permettent des mesures de détail, des inspections cristallographiques et la création d'images de reconstruction 3D qui peuvent être utilisées pour soutenir la caractérisation des composants. Une installation de modèle 3D intégrée au processeur d'image permet la visualisation de matériaux et d'entités complexes. La capacité de balayage à grande vitesse du déflecteur HITACHI S-4100 fournit un taux de balayage allant jusqu'à 600 mm/s, ce qui permet une imagerie plus rapide et plus nette que les méthodes de balayage classiques. De plus, des chambres environnementales personnalisables peuvent être utilisées pour assurer l'analyse fiable et reproductible des échantillons dans les environnements les plus difficiles. S-4100 a été conçu pour répondre aux exigences de l'ingénierie et de la recherche modernes. Il dispose d'une combinaison unique d'imagerie avancée et de capacités de balayage ultra-rapide, de puissantes capacités de traitement d'image et d'un composant optique avancé, ce qui en fait le choix idéal pour une multitude d'applications.