Occasion HITACHI S-4160 #180092 à vendre en France
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Vendu
HITACHI S-4160 Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil avancé d'imagerie et d'analyse conçu pour fournir des images microscopiques détaillées d'un large éventail de types d'échantillons. L'appareil utilise un faisceau ionique focalisé pour scanner la surface d'un échantillon et produire une image numérique agrandie représentant ce qui peut être jusqu'à un million de fois plus qu'une photographie quotidienne. Avec une colonne électronique 5-105kV, HITACHI S 4160 dispose d'une capacité unique qui lui permet d'effectuer divers types d'imagerie et d'analyse tels que les rayons X dispersifs d'énergie (EDX), la réflectométrie et le traitement du signal. Il peut également effectuer des mesures quantitatives de caractéristiques minuscules telles que les limites des grains, les distributions de granulométrie et analyser la composition élémentaire, la composition chimique et la topographie. S-4160 a une distance de travail maximale de 15 mm et une résolution énergétique du faisceau d'électrons de 0,2 à 2keV. Une image peut avoir une taille allant de 85 nm à 30 µm, le dispositif produisant une résolution de 12 000 pixels par mm. Il a également un temps de réponse rapide, avec jusqu'à 8 trames/sec en stig et jusqu'à 200 trames/sec en mode SE. L'appareil bénéficie également d'une faible dérive dans les contrôles de stigmatisation et de focalisation, avec des temps de fonctionnement/arrêt du stigmate inférieurs à 0,25 s. Le dispositif dispose de nombreuses options pour optimiser les processus d'imagerie et d'analyse, avec des décalages de courant et de tension multi-segmentés offrant des avantages distincts par rapport aux SEM classiques. Le S 4160 intègre également une fonctionnalité polyvalente d'analyse élémentaire, le dispositif pouvant représenter avec précision les différents éléments présents dans les échantillons. Avec un détecteur de rayons X dispersif d'énergie, HITACHI S-4160 produit une détection jusqu'à 15 000 compteurs/s, ce qui est utile pour déterminer la distribution et la concentration de différents éléments sur un échantillon. Pour l'analyse compositionnelle, le dispositif fournit des mesures précises grâce à son détecteur automatisé de dérive de silicium et aux commandes de sauvetage des sources de rayons X. En conclusion, le microscope électronique à balayage HITACHI S 4160 est un système d'imagerie et d'analyse de pointe rendu possible grâce à l'utilisation d'une technologie de pointe. Sa sensibilité et sa résolution supérieures fournissent une imagerie inégalée, tandis que ses capacités d'analyse avancées, y compris l'analyse élémentaire et la composition, en font la solution idéale pour la recherche et les applications scientifiques.
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