Occasion HITACHI S-4160 #293586847 à vendre en France

HITACHI S-4160 est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé dans la recherche et les applications industrielles. Ce SEM intègre un détecteur d'électrons très sensible qui offre aux utilisateurs des images à plus haute résolution et un meilleur rapport signal sur bruit. L'instrument est également équipé d'un logiciel automatisé de piquage d'images qui permet aux chercheurs de compiler une image homogène à partir de nombreuses images de faible grossissement. HITACHI S 4160 est équipé d'un détecteur SE analytique permettant la capture d'électrons secondaires en plus d'autres signaux tels que les électrons rétrodiffusés et les rayons X caractéristiques. Ce détecteur est sensible aux électrons de haute énergie permettant la capture d'images ayant des résolutions supérieures à 3 nm aux faibles tensions d'accélération. Les systèmes EDS pour S-4160 permettent la détection et la quantification de la composition élémentaire dans l'échantillon considéré. Il est capable de mesurer des éléments du bore à l'uranium avec une résolution spatiale de 1 μ m. Ce microscope électronique est capable d'atteindre des résolutions allant jusqu'à 4 nm en mode électronique rétrodiffusé (ESB) et se vante d'une gamme complète de grossissements allant jusqu'à x400.000. Cela permet à l'instrument de capturer des images avec toute la clarté et le détail. Le microscope est également capable de recueillir divers signaux tels que des électrons secondaires et des électrons rétrodiffusés qui peuvent être utilisés pour calculer les informations topographiques et élémentaires de l'échantillon considéré. S 4160 est également équipé d'une spectroscopie d'analyse des rayons X dispersive d'énergie (EDX) qui permet une analyse élémentaire de l'échantillon avec la résolution ajoutée de 1 μ m. Ce système EDX est compatible avec un large éventail de détecteurs permettant une détection accrue d'éléments allant du bore à l'uranium. Le microscope est également capable de générer des images à faible kV, ce qui réduit l'effet néfaste de la charge sur l'échantillon considéré. En effet, les échantillons peuvent être chargés à des niveaux faibles, assurant ainsi une plus grande précision d'image. De plus, HITACHI S-4160 est équipé d'un étage de grande capacité qui permet de visualiser facilement des échantillons de plus grande taille. Ceci est particulièrement utile pour les grands échantillons, tels que ceux rencontrés dans les applications industrielles. De plus, l'étage peut être facilement réglé dans le sens horizontal et vertical permettant une mise en place précise de l'échantillon. HITACHI S 4160 est un puissant microscope électronique à balayage (SEM) qui convient à la fois pour la recherche et les applications industrielles. Ce SEM est livré avec un détecteur d'électrons très sensible, un logiciel automatisé de couture d'imagerie, une spectroscopie d'analyse des rayons X dispersive d'énergie, et un étage de grande capacité qui permet de visualiser facilement des échantillons de plus grande taille. L'instrument est capable de résolution jusqu'à 4 nm et d'agrandissements jusqu'à x400.000, offrant aux utilisateurs des images haute résolution avec des rapports signal/bruit améliorés.