Occasion HITACHI S-4160 #293625350 à vendre en France

HITACHI S-4160
ID: 293625350
Taille de la plaquette: 6"
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 6".
HITACHI S-4160 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) qui combine une haute résolution et un haut débit pour les échantillons d'imagerie. Il est équipé d'un canon à électrons à émission de champ qui fournit d'excellents signaux de bas niveau et de stabilité à long terme, avec un débit élevé de 20 000 images/seconde, ce qui le rend adapté à l'imagerie à la fois grande surface et des prises de vue détaillées. Le faisceau d'électrons fort permet une taille de tache finie et une vitesse de sonde élevée pour une résolution améliorée et une imagerie accélérée. HITACHI S 4160 utilise un équipement de contrôle de grossissement de pointe qui permet une large gamme de niveaux de grossissement et un objectif unique indexé qui fournit une résolution optimale de l'échantillon observé. Ce système dispose également d'une unité de filtrage de l'énergie améliorée qui permet de mesurer l'image d'échantillons plus épais tout en améliorant la clarté de l'image. S-4160 est équipé d'un dispositif CoolView qui surveille l'environnement de la machine et ajuste le fonctionnement en conséquence tout en affichant les conditions d'observation actuelles. Le CoolView aide également à améliorer la résolution de résonance afin de réduire les risques environnementaux associés à l'imagerie à des températures extrêmes et rigoureuses. S 4160 est également livré avec une machine d'imagerie électronique secondaire optionnelle, qui peut être utilisé pour l'imagerie des caractéristiques de surface afin de mesurer la mouillabilité, le contraste, le vitrage ou la décoloration de l'échantillon. Cet outil peut également être utilisé pour visualiser les caractéristiques de surface et déterminer avec précision la surface des matériaux d'ingénierie. HITACHI S-4160 est un atout d'imagerie complet qui est un excellent outil pour évaluer les caractéristiques et les propriétés des matériaux et des composants. Il offre un processus de contrôle de scan de haute précision allant jusqu'à 35 000 images/seconde pour supporter une large gamme d'analyses matérielles. De plus, les images capturées par HITACHI S 4160 ont une résolution ultra élevée qui permet une analyse précise et précise. Ce modèle SEM haute performance est idéal pour l'imagerie haute résolution et les besoins d'analyse sophistiqués d'une grande variété de matériaux et de composants. Sa technologie de pointe, ses contrôles sophistiqués et ses logiciels intuitifs en font un excellent outil de recherche et d'analyse d'un large éventail de matériaux, des composants industriels aux composants nanométriques.
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