Occasion HITACHI S-4160 #9048202 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage HITACHI S-4160 (SEM) est un outil d'imagerie de haute technologie qui permet d'acquérir des images extrêmement détaillées et précises des structures microscopiques des échantillons. Il est idéal pour les applications industrielles, de recherche et d'enseignement. Le HITACHI S 4160 est équipé d'un canon à électrons LaB6 et utilise un détecteur numérique SDD ou SiLi pour la détection des rayons X. Il a un objectif in-lens et un grand champ de vision, avec jusqu'à 200.000x grossissement selon l'objectif spécifié. Il a également un taux de capture d'image rapide, avec un temps d'acquisition d'image de seulement 40 nanosecondes. S-4160 utilise un détecteur d'électrons secondaires (SE2) à cathode froide, ainsi que des détecteurs d'électrons (BSE1/2) à diffusion inélastique et rétrodiffusés. Le détecteur SE2 permet l'imagerie de la topographie de surface de l'échantillon à haute résolution, tandis que les détecteurs ESB permettent l'observation de la composition de l'échantillon. Cette distinction entre topographie et composition permet aux utilisateurs de mieux comprendre la nature de leur échantillon. S 4160 intègre un étage d'échantillonnage automatisé qui permet un positionnement motorisé précis, permettant le déplacement de l'échantillon dans les axes X, Y et Z. Ceci offre un contrôle d'échantillons sans précédent et permet de déplacer rapidement et précisément l'échantillon entre différentes positions. HITACHI S-4160 dispose également d'un système universel de vide grossier (UCVS) qui permet d'améliorer le contrôle du vide, ce qui améliore le fonctionnement. HITACHI S 4160 a une variété de capacités d'imagerie. Il peut acquérir des images à haute résolution avec un faisceau d'électrons de taille aussi faible que 5nm, ainsi que l'imagerie à faible vide qui donne aux utilisateurs la capacité d'image dans des environnements à faible vide. Il a également des capacités d'imagerie à angle variable, ce qui permet aux utilisateurs d'incliner l'échantillon à un angle allant jusqu'à 45 ° pour acquérir des images d'un point de vue différent. Dans l'ensemble, S-4160 SEM est un outil d'imagerie puissant et polyvalent qui peut fournir des images extrêmement détaillées d'objets microscopiques. Avec ses caractéristiques avancées telles que le mouvement automatisé des échantillons motorisés, l'imagerie à angle variable et l'imagerie haute résolution, le S 4160 est un outil essentiel pour une variété d'applications industrielles, de recherche et d'enseignement.