Occasion HITACHI S-4160 #9200118 à vendre en France

HITACHI S-4160 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fonctionne en balayant un faisceau de particules chargées focalisées sur une surface d'échantillon et en recueillant les électrons secondaires, les électrons rétrodiffusés et les rayons X pour produire une image. Il offre une haute résolution - jusqu'à un niveau inférieur à 0,2 nanomètre - avec des images optimales et durables. Ce SEM est également extrêmement facile à utiliser ; les utilisateurs peuvent le faire fonctionner avec seulement quatre boutons et interrupteurs, ce qui le rend adapté à un large éventail d'applications scientifiques et industrielles. Le HITACHI S 4160 est équipé d'un système de correction d'aberration sphérique et d'un objectif haute résolution pour assurer une imagerie précise à des grandeurs très élevées jusqu'à 1000.000x. Il a également un canon à électrons à émission de champ (FEG), fournissant un faisceau d'électrons bien collimaté et de haute intensité avec une abbération chromatique faible et une grande stabilité. La FEG contribue en outre à la qualité d'image élevée en diminuant le temps d'alignement et de maintenance. Le système d'inclinaison en S-4160 est conçu pour faciliter l'alignement des axes de l'échantillon et de l'objectif. Ceci permet des variations précises de l'angle entre l'échantillon et le faisceau d'électrons pour les activités de basculement. Combiné à la fonction automatique à deux axes, l'utilisateur peut observer des microstructures dans différentes orientations sans aucun réglage manuel. Quant à l'analyse d'image, la S 4160 est équipée du mode d'imagerie 3D unique qui permet de mesurer et d'afficher simultanément trois directions dans une image 3D. HITACHI S-4160 dispose également d'un large éventail de fonctions d'analyse d'image, y compris la mesure automatisée de l'image, la sortie PDF, le calcul automatisé de la valeur et la division de l'image. Cela permet aux utilisateurs d'analyser avec précision et commodité les spécimens les plus complexes. HITACHI S 4160 est livré avec un étage automatique standard, un étage de spécimen numérisé, et une fonction de sablage automatique. L'étape automatique est conçue pour faciliter le fonctionnement et l'observation des échantillons en contrôlant automatiquement les réglages de position et la rotation de l'échantillon. L'étage de spécimen numérisé permet aux utilisateurs d'observer six spécimens différents sans aucun réglage manuel. La fonction de sablage automatique permet une préparation précise de l'échantillon sans endommager les échantillons. Dans l'ensemble, S-4160 est un microscope électronique à balayage puissant et facile à utiliser qui convient à une analyse avancée dans une grande variété de domaines. Ses fonctions avancées d'imagerie, d'analyse d'image et de scène en font un choix idéal pour de nombreuses applications.