Occasion HITACHI S-4160 #9313656 à vendre en France

HITACHI S-4160 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit une imagerie robuste, fiable et haute performance. Cet équipement utilise une chambre à vide ultra-élevé et une entrée à vide qui permet un transfert rapide d'échantillons et un fonctionnement efficace. Il est équipé de lentilles de haute précision et d'un système d'imagerie numérique qui permet l'imagerie nette et détaillée de spécimens à des grossissements allant jusqu'à 400 000 x. HITACHI S 4160 utilise une source d'électrons à émission de champ (FEG), qui produit un faisceau d'électrons à forte intensité et à faible angle qui aide à atteindre une capacité d'imagerie supérieure. La source d'électrons FEG génère également des distributions ultra-faibles d'électrons et moins de charge d'échantillons en raison de son faible courant de faisceau. La vaste gamme d'accessoires du microscope lui permet d'imiter des spécimens dans diverses configurations, y compris les électrons rétrodiffusés, les électrons secondaires, la cathodoluminance et les modes de cartographie des rayons X. S-4160 possède des capacités analytiques supérieures qui comprennent l'analyse des rayons X dispersifs en énergie (EDS), la diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD), l'analyse des rayons X dispersifs en longueur d'onde (WDS) et l'imagerie électronique. Le détecteur de filtrage de l'énergie (EF) du microscope permet de détecter les éléments lumineux à haute sensibilité avec une limite de détection optimale de 50 ppm ou moins. Le microscope utilise également une option EBSD haute résolution qui offre une résolution supérieure et une imagerie à faible contraste. L'unité de commande informatique S 4160 permet à l'utilisateur de contrôler et d'imiter plusieurs échantillons simultanément. Cette machine fournit un logiciel de visualisation en temps réel qui ajuste automatiquement la vue à la structure de l'échantillon changeant et surveille simultanément une gamme de paramètres tels que le courant de sonde, le focus et l'astigmatisme. HITACHI S-4160 est livré avec une gamme d'accessoires, tels que risers de scène, granulateurs, et porte-échantillons. Ces accessoires permettent à l'utilisateur de contrôler précisément la position et la vue de l'échantillon. La norme HITACHI S 4160 comprend également un processus automatisé de préparation des échantillons qui comprend un pulvérisateur-enrobeur, un déposant de carbone et un dispositif cryogénique pour aider à préparer partiellement ou complètement les échantillons avant leur imagerie. Cet outil SEM est conçu pour être très fiable et offre des opérations à long terme pour un large éventail d'applications.