Occasion HITACHI S-4160 #9389833 à vendre en France

HITACHI S-4160 est un microscope électronique à balayage moderne (SEM) conçu pour la science des matériaux, l'analyse de surface et l'imagerie nanométrique. Il est idéal pour des applications telles que l'analyse microstructurale des semi-conducteurs, l'intégration optique, les biosciences et les nanotechnologies. HITACHI S 4160 est basé sur le nouveau système optique électronique, qui utilise une source de particules très chargée pour créer un faisceau d'électrons avec une forte densité de courant. Ce faisceau est ensuite focalisé à l'aide de lentilles électrostatiques et magnétiques à une très petite taille de tache. Ce faisceau est ensuite balayé à travers l'échantillon afin de créer une image. S-4160 est équipé d'un appareil photo numérique et d'un système de lecture d'images, ainsi que d'un logiciel sophistiqué pour l'analyse d'images. Il dispose également d'une variété de fonctions automatisées pour la préparation des échantillons, telles que la focalisation automatique et l'imagerie de rétrodiffusion. De plus, l'étage intégré dispose d'un système de poursuite automatique de haute précision, rendant l'alignement et le mouvement des spécimens plus simples et plus précis. S 4160 offre une variété de fonctionnalités pour l'imagerie à l'échelle nanométrique, y compris l'imagerie nanométrique et nanorodique, l'imagerie de surface, le microcanelage, l'imagerie microfluidique, l'imagerie 3D et l'analyse des particules. Il offre également une haute résolution jusqu'à 5,5 nm et une plage de grossissement de 5X-100KX. D'autres caractéristiques comprennent une chambre à vide et un détecteur à double énergie, ainsi qu'une source de filament de tungstène et une tension de canon variable pour optimiser encore l'imagerie d'échantillons. Ce SEM dispose également d'un écran tactile numérique convivial et d'une visualisation sur l'axe pour améliorer l'expérience utilisateur. En conclusion, HITACHI S-4160 est un microscope électronique à balayage haute performance qui peut fournir aux utilisateurs une imagerie nanométrique, des caractéristiques polyvalentes et des résultats à haute résolution. Il est parfait pour une variété d'applications telles que l'analyse microstructurale semi-conductrice et optique, l'imagerie de surface, l'analyse de particules, et plus encore.