Occasion HITACHI S-4200 #9288014 à vendre en France

HITACHI S-4200 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour l'analyse d'une grande variété de matériaux, en particulier ceux avec de petites structures et des caractéristiques densément emballées. Ce SEM est équipé d'un équipement d'imagerie amplifié à haute résolution qui peut agrandir des objets jusqu'à 400 000 x, avec une résolution d'imagerie de 1,2 nanomètres. HITACHI S 4200 combine une puissante optique électronique et système de détection, et une grande variété d'étages d'échantillons compatibles. La vaste gamme d'étapes d'échantillons disponibles pour S-4200 permet l'analyse d'une grande variété de types d'échantillons - y compris des échantillons de semi-conducteurs, des objets nanométriques, des cellules biologiques et des fractions matérielles. Pour les échantillons d'imagerie, le S 4200 comporte un détecteur d'électrons secondaire, un détecteur d'électrons rétrodiffusé et une unité de détection dispersive d'énergie radiologique facultative. Le détecteur d'électrons secondaire de HITACHI S-4200 permet l'acquisition simultanée d'images d'électrons secondaires amplifiées, avec une résolution jusqu'à 1,2 nanomètres. Le détecteur d'électrons secondaire peut également être utilisé pour effectuer l'imagerie SEM automatisée avec la fonction de mise au point automatique. Le détecteur d'électrons rétrodiffusé HITACHI S 4200 permet des analyses de composition de surface à faible grossissement, avec une résolution de 10 nanomètres. S-4200 dispose d'une fonction d'auto-échantillonnage unique qui déplace automatiquement l'échantillon entre les multiples porte-échantillons pour un maximum de confort et de commodité. La fonction d'auto-échantillonnage augmente l'efficacité des tests de laboratoire, tout en économisant du temps et en réduisant les erreurs humaines. S 4200 offre également un module optionnel de spectroscopie nano-sonde qui permet à l'utilisateur de cartographier la spectroscopie de perte d'énergie électronique (EELS) d'un échantillon en haute précision. HITACHI S-4200 permet également le fraisage par faisceau ionique focalisé (FIB), une technique qui fournit un moyen idéal de recueillir des échantillons efficaces et peu invasifs pour l'échantillon. HITACHI S 4200 est également équipé de plusieurs systèmes logiciels de HITACHI tels que 3DViewer, 3DReconstruction et Material Analysis Machine (MAS). Ces logiciels offrent une grande variété de fonctionnalités pour l'analyse d'échantillons, y compris les capacités d'imagerie 3D, les améliorations de contraste, la couture automatisée des images, et de nombreuses autres fonctionnalités. Dans l'ensemble, S-4200 est un SEM incroyablement puissant et polyvalent, qui peut être utilisé pour une gamme diversifiée de recherche scientifique et d'applications industrielles. Ses capacités offrent un aperçu sans précédent du monde microscopique et permettent aux scientifiques et aux ingénieurs d'explorer et de comprendre l'univers physique dans des détails sans précédent.