Occasion HITACHI S-4300 #9112452 à vendre en France
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Vendu
ID: 9112452
Scanning electron microscope (SEM)
Includes Oxford 7982 energy dispersion spectrometer
Magnification: 20x~250,000x
Resolution:
1. 5nm
(at accelerating voltage of 15kV, working distance of 5 mm)
(at accelerating voltage of 1kV, working distance of 5 mm)
Electron optics:
Electron gun:Cold-cathode field emission electron gun
Accelerating voltage:0.5 to 30 kV
Specimen stage:
X movement:0 to 100 mm
Y movement:0 to 50 mm
Z movement:0 to 35 mm
Tilt:-5°to 60°
Rotation:360°
Specimen size:102 mm max
Vacuum system:
Principle:Full-auto pneumatic valve control evacuation
Ultimate vacuum:1x10-7Pa (electron gun), 1x10-4Pa (specimen chamber)
Currently warehoused.
HITACHI S-4300 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour la caractérisation des surfaces. Il s'agit d'un microscope électronique à balayage d'émission de champ (FE-SEM), utilisant une source d'émission de champ pour générer un faisceau d'électrons de haute qualité. Il s'agit d'un système facile à utiliser capable de fournir une imagerie et une analyse très détaillées d'un large éventail d'échantillons. HITACHI S 4300 dispose d'un niveau de résolution ultra élevé de < 0,8nm, permettant aux utilisateurs d'observer de très petites caractéristiques et de caractériser la structure d'un échantillon dans des détails incroyables. Il est équipé d'un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie (EDS) qui peut être utilisé pour effectuer une caractérisation élémentaire avec un degré élevé de précision. Ensemble, ces capacités le rendent idéal pour des applications telles que la microscopie électronique des systèmes biologiques, les matériaux nanotechnologiques, l'analyse des échecs et des fins éducatives. S-4300 peut manipuler de grands échantillons, et son accessibilité permet l'observation et l'analyse sur une gamme de grossissements jusqu'à 100.000x. Il a une large gamme de capacités d'inclinaison de scène avec des réglages d'angle de 0 à 90 degrés. Cela le rend bien adapté pour effectuer des études toroïdales et visualiser des surfaces inclinées. Il est également équipé de plusieurs techniques d'imagerie avancées telles que l'imagerie électronique rétrodiffusée et l'imagerie électronique secondaire. Les électrons rétrodiffusés révèlent des caractéristiques de surface tandis que les électrons secondaires montrent de beaux détails de matériaux. S 4300 offre également une version automatisée de l'imagerie électronique secondaire appelée « imagerie de galerie », qui aide à balayer rapidement de grandes zones d'un échantillon à une faible distance échantillon-détecteur. Ces fonctionnalités permettent à HITACHI S-4300 de recueillir efficacement des données rapidement avec une résolution aussi fine que < 10nm. De plus, la HITACHI S 4300 est équipée d'un puissant moteur XYZ Piezo permettant des mouvements automatiques sur les plans x, y et z. Cela permet aux utilisateurs d'automatiser des modèles de balayage tels que le balayage de raster et le balayage de ligne. Ces mouvements automatisés fournissent des images plus rapides et plus haute résolution avec moins d'artefacts de charge. En résumé, S-4300 est un instrument avancé capable de fournir une imagerie et une analyse de haute qualité d'un large éventail d'échantillons. Avec ses capacités d'imagerie et d'analyse avancées, sa résolution ultra-élevée et son large éventail de capacités d'inclinaison de scène, ce microscope électronique à balayage est un outil inestimable pour une variété d'applications.
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