Occasion HITACHI S-4300 #9164240 à vendre en France
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ID: 9164240
Style Vintage: 1999
Scanning Electron Microscope (SEM)
Manual stage system
Operating system: Window NT
Secondary electron image resolution:
1.5 nm or better at 15 kV
5.0 nm or better at 1 kV
Operating system: Windows NT
Magnification: 20x, ~5,000,000x
Accelerating voltage: 0.5, ~30 kV (Variable at 0.1 kV/step)
Image shift: ±3 μm (W.D=30 mm)
Image navigation: Standard for motor drive stage
Specimen thickness: 17 mm
Specimen size through airlock: 100 mm diameter
Specimen stage:
Stage / Standard stage / Large stage
X / 0~25 mm / 0~100 mm
Y / 0~25 mm / 0~50 mm
Z / 5~30 mm / 5~35 mm
R / 360° / 360°
T / -5~+45° / -5~+60°
Electron optics:
Electron source: Cold field emission electron source
Objective aperture: Heated type
Detectors:
Secondary electron detector
YAG BSE Detector (option)
Take-off angle for EDX spectrometer: 30°
CRT Display language: English
PC, OS: PC/AT Compatible, windows
Operation: Mouse, keyboard and function rotary knobs
Viewing monitor: 17" LCD
Automated functions:
Auto-focus
Auto-stigmation
Auto-brightness and contrast
Auto-start
Auto-photo modes
Image processing:
Image manager software
Raster rotation
Frame memory:
640 x 480 pixels
1,280 x 960 pixels
2,560 x 1,920 pixels
Image filing: Built in image data base with search functions
Image format: BMP, TIFF, JPEG
Auto data display:
Accelerating voltage
Magnification micron marker
Micron value
Film number
W.D
Date / Hour
Photo magnification
Detector
Vacuum system: Full automated system with pneumatic valves
Attainable vacuum:
~10-7 Pa (Electron gun)
~10-4 Pa (Sample chamber)
Vacuum pumps:
IP: 60 l/s x 1, 20 l/s´2
DP: 570 l/s 1
RP: 140 (168) l/min x 2 for 60 Hz
Protection system: Power, water and vacuum failures
Includes:
Windows base control system: Diffusion pump
Chiller
(2) Rotary pumps
Missing part: SDD Detector
1999 vintage.
HITACHI S-4300 représente un microscope électronique à balayage monochromatique à haute résolution. Ce dispositif offre une facilité de fonctionnement, une productivité accrue et un faible impact environnemental. C'est un excellent scanner pour une variété d'applications analytiques et de recherche. Ce modèle a une tension d'accélération réglable avec un maximum de 40kV, et une résolution de 1,8nm, ce qui le rend optimal pour l'imagerie haute résolution et l'analyse élémentaire. Ce microscope utilise également un monochromateur pour sélectionner la longueur d'onde souhaitée des électrons pour minimiser le bruit de fond et pour améliorer le contraste dans l'imagerie. Les composants optiques électroniques de ce microscope électronique à balayage sont conçus pour assurer des performances optimales et efficaces tout en éliminant le bruit inutile. La chambre d'échantillonnage est purgée à l'azote avec un système de pompage pour maintenir des niveaux de vide élevés. Ces facteurs réduisent considérablement les risques de contamination et de dégradation des échantillons tout en fournissant des capacités de balayage à haute résolution. De plus, le HITACHI S 4300 dispose d'un détecteur d'électrons de conversion à haute sensibilité (HS-CED) qui offre une performance signal-bruit exceptionnelle pour améliorer la résolution d'image et le contraste. De plus, le dispositif dispose d'un module d'ionisation par pulvérisation électro (ESI) qui peut être utilisé pour la spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS). Ces données sont extrêmement précieuses pour une analyse plus détaillée du matériel d'échantillonnage. Enfin, S-4300 propose une étape de basculement qui peut être utilisée pour l'imagerie de grande surface ou pour l'imagerie in situ. Cette fonction permet à l'opérateur de visualiser une surface plus grande qu'avec l'imagerie statique standard ; ceci est utile pour trouver des particules plus petites ou étudier la structure d'un échantillon sous de multiples angles. Dans l'ensemble, le S 4300 offre de superbes performances en microscopie électronique à balayage. Sa tension réglable, ses capacités d'imagerie haute résolution et ses performances signal à bruit garantissent des résultats précis et puissants pour une variété d'applications de recherche et d'analyse. Le porte-échantillon basculant améliore encore la capacité de l'instrument pour l'imagerie de grande surface. Cet appareil est idéal pour l'imagerie de la science des matériaux, le contrôle de la qualité et la recherche en nanotechnologie.
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