Occasion HITACHI S-4500 Type II #293592472 à vendre en France

HITACHI S-4500 Type II est un microscope électronique à balayage de bureau haute performance (SEM) conçu pour répondre aux exigences d'un large éventail de recherches et d'applications industrielles. En mettant l'accent sur l'imagerie et l'analyse, HITACHI S-4500 TYPE-II offre d'excellentes capacités d'imagerie avec une grande chambre d'échantillonnage et une image haute résolution pouvant atteindre 2 µm. S-4500 Le type II utilise plusieurs techniques d'imagerie, telles que l'imagerie électronique secondaire (SEI), l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB), la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) et la spectroscopie à rayons X dispersive de longueur d'onde (WDS). S-4500 Le TYPE-II est équipé d'une source unique d'électrons TFEG pour l'imagerie SEM à haute résolution. La conception avancée de la source d'électrons TFEG, avec des doses d'électrons plus élevées, des énergies de faisceau plus élevées et des performances supérieures, permet aux utilisateurs de mesurer de très petites caractéristiques d'échantillons (jusqu'à < 2 nm) avec un contraste plus élevé et des images plus précises. HITACHI S-4500 Type II est livré avec une grande chambre d'échantillonnage et une large gamme d'accessoires pour la manipulation précise de l'échantillon. La chambre d'échantillonnage est équipée d'étapes hiérarchiques de balayage X-Y pour un positionnement et un étalonnage précis des échantillons, d'étapes automoréducatives complètes pour un positionnement précis des échantillons, d'étapes d'auto-corrélation complète avec une plage de déplacement de étages allant jusqu'à 100 mm et d'un dissipateur thermique pour éliminer la dérive thermique dans la chambre d'échantillon. Pour améliorer la visualisation et l'analyse des échantillons, plusieurs fonctions d'analyse automatisées sont disponibles, dont des fonctions de mesure et la possibilité d'ajouter des annotations et des dessins aux images. HITACHI S-4500 TYPE-II prend en charge une large gamme d'analyses automatisées en temps réel, y compris l'analyse des particules, la cartographie et la détection élémentaires, et le profilage de ligne avancé. S-4500 Le type II dispose d'un système de contrôle actif de la température en boucle fermée pour améliorer la stabilité de la température dans la chambre d'échantillonnage, ce qui contribue à améliorer la performance globale de l'imagerie et la répétabilité des résultats. Son large éventail de capacités d'imagerie, d'analyse et d'automatisation en font un outil idéal pour l'analyse microstructurale détaillée d'un large éventail d'échantillons.