Occasion HITACHI S-4500 Type II #9230775 à vendre en France

HITACHI S-4500 Type II est un microscope électronique à balayage (SEM) avec des applications d'imagerie et d'analyse. Le SEM haute résolution utilise un canon à électrons pour générer un faisceau d'électrons qui est ensuite focalisé sur la surface de l'échantillon, ce qui permet d'observer les caractéristiques de surface, les distributions élémentaires et la cartographie de la composition. Le contraste entre une caractéristique de l'échantillon et son environnement peut également être observé en détail. HITACHI S-4500 TYPE-II dispose d'une source d'électrons d'émission de champ (FEG) qui génère un faisceau d'électrons avec une plage d'énergie de 10 kV à 30 kV. Cette énergie est ensuite utilisée pour balayer une surface d'échantillon, avec une résolution de 0,17 nm et une détection de 0,1 nm sur des échantillons non conducteurs, avec une résolution sous-nanométrique possible sur des échantillons conducteurs. Différents détecteurs d'électrons du SEM mesurent les électrons secondaires de l'échantillon, les électrons rétrodiffusés et les électrons réfléchis, fournissant des informations riches sur l'échantillon, comme la topographie, la composition et les types de liaisons. À des fins d'analyse, S-4500 Type II est équipé de deux spectromètres à rayons X dispersifs d'énergie (EDS) et de deux spectromètres à rayons X dispersifs de longueur d'onde (WDS). En utilisant ces spectromètres, la composition élémentaire et les phases cristallines d'un échantillon peuvent être détectées et analysées en détail. Le SEM est également capable de détecter, mesurer et cartographier les propriétés des échantillons telles que la conductivité électrique, la différence de potentiel de contact et la charge de surface. L'analyse de l'échantillon est affichée avec une sensation d'affichage en deux dimensions et des valeurs numériques pour les éléments identifiés. De plus, S-4500 TYPE-II utilise son système environnemental pour assurer une observation sûre des échantillons. Pour la protection contre les influences extérieures, le SEM est équipé d'une chambre à vide, d'une pompe à cryo, d'un système d'admission de gaz en option, d'un chauffe-échantillons et de réglages de grossissement pour assurer une analyse sûre et stable des échantillons. En tirant parti de son faisceau d'électrons à balayage et des multiples spectromètres attachés, HITACHI S-4500 Type II Scanning Electron Microscope permet l'imagerie et l'analyse efficaces de surfaces d'échantillons, fournissant des données précieuses sur la topographie, la composition élémentaire et la phase, même à résolution sous-nanométrique. Le système de contrôle environnemental contribue également à l'analyse sûre et précise d'un échantillon, en garantissant des données exactes et fiables.