Occasion HITACHI S-4500 #293594619 à vendre en France

HITACHI S-4500 est un microscope électronique à balayage par émission de champ (FE-SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution. Il s'agit d'un FE-SEM haute performance de nouvelle génération basé sur une conception en champ polarisé et doté d'un nouvel équipement de balayage rapide. HITACHI S 4500 fournit une résolution exceptionnellement élevée, la stabilité de l'image et le contraste de l'image, lui permettant de capturer l'information d'un large éventail d'échantillons et de matériaux. S-4500 possède une grande chambre, une grande stabilité et de faibles vibrations. La chambre permet un large éventail de techniques d'imagerie et de conditions environnementales. Un système de contrôle environnemental embarqué (ECS) permet un contrôle manuel ou automatisé de la température, du gaz et de la pression, ce qui facilite la mise en place et le contrôle de multiples expériences. Un générateur de moteur intégré fournit jusqu'à 160mm de mouvements et l'étage d'échantillonnage est à la fois faible bruit et de haute précision. S 4500 est conçu pour accueillir un large éventail d'applications, y compris l'imagerie haute résolution, l'optimisation de la mise au point d'échantillons, l'échantillonnage 3D, les progiciels connexes et l'intégration évolutive. Il dispose d'une caméra HD intégrée (compatible avec la plupart des caméras HITACHI S-4500) et d'une connexion directe au moniteur HD, permettant la transmission d'images pendant la numérisation de l'échantillon. La caméra permet également l'analyse de plus grands échantillons sur une large gamme de grossissements. En ce qui concerne la performance de la HITACHI S 4500, son canon à émission de champ (FEG) est dans une ligue à part. La conception FEG est unique dans sa capacité à produire à la fois des images à haute résolution et des images à fort grossissement. Il produit une résolution impressionnante jusqu'à 1nm, permettant l'imagerie sous micron, et un grossissement maximum de 500.000x. S-4500 est également capable de prendre des mesures spectroscopiques par l'intermédiaire d'un détecteur à rayons X dispersif en énergie (EDXD) et d'une unité de cathodoluminescence (CLS). L'EDXD assure une analyse précise de la composition élémentaire d'un échantillon, et le CLS est idéal pour étudier les matériaux luminescents. Pour assurer un fonctionnement fiable et précis de l'instrument, le S 4500 dispose également d'une gamme de logiciels et de fonctions automatiques, y compris un nettoyeur à ultrasons, un nettoyage reproductible des échantillons, une machine d'interception sous vide et un outil d'alignement automatique au microscope. Cet atout d'alignement automatisé permet à l'utilisateur d'établir et de maintenir un calibrage précis de grossissement, permettant la création d'images transversales vraies. Alliant performances exceptionnelles avec fiabilité et facilité d'utilisation, le microscope électronique à balayage HITACHI S-4500 est le choix idéal pour l'imagerie haute résolution, l'optimisation de la focalisation des échantillons et l'intégration évolutive. Avec sa conception FEG unique, ses mesures spectroscopiques, son imagerie à fort grossissement, ses logiciels avancés et ses fonctions automatiques, le HITACHI S 4500 offre des résultats optimaux sur toute la gamme d'applications d'échantillonnage.