Occasion HITACHI S-4500 #293774122 à vendre en France

HITACHI S-4500 est un microscope électronique à balayage sophistiqué (SEM) qui incarne la technologie de pointe dans le domaine de la microscopie. Avec son optique de précision, ses capacités d'imagerie avancées et son interface conviviale, le HITACHI S 4500 est un instrument puissant pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de divers échantillons dans plusieurs industries. Au cœur de S-4500 se trouve sa colonne de faisceau d'électrons, qui génère un faisceau focalisé d'électrons pour éclairer la surface de l'échantillon. La source d'électrons très stable et le système optique robuste garantissent une qualité d'image et une résolution exceptionnelles jusqu'à l'échelle du nanomètre. S 4500 est équipé d'une variété de détecteurs, y compris d'électrons secondaires (SE), d'électrons rétrodiffusés (ESB) et de détecteurs de rayons X dispersifs en énergie (EDX), permettant une imagerie polyvalente et une analyse élémentaire des échantillons. Une des caractéristiques exceptionnelles de HITACHI S-4500 est son mode de pression variable (VP), qui permet l'imagerie d'échantillons dans une large gamme de conditions de vide. Cette capacité est particulièrement utile pour analyser des échantillons non conducteurs ou sensibles au faisceau qui peuvent être chargés ou endommagés dans des environnements à vide élevé. En fonctionnant en mode VP, les utilisateurs peuvent réaliser une imagerie et une analyse de haute qualité d'une gamme variée de matériaux sans avoir besoin d'une préparation d'échantillon approfondie. Le HITACHI S 4500 est également équipé d'un système d'étage avancé qui permet une manipulation précise et automatisée des échantillons. L'étage motorisé peut être contrôlé avec une grande précision, permettant aux utilisateurs de cibler des régions spécifiques d'intérêt sur la surface de l'échantillon pour l'imagerie et l'analyse. En outre, S-4500 offre une variété de modes d'imagerie, y compris l'imagerie haute résolution, la cartographie à grande surface et la reconstruction 3D, pour répondre à un large éventail de besoins expérimentaux. En termes de capacités analytiques, le S 4500 est équipé d'un système de spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire des échantillons. Le détecteur EDX peut identifier et quantifier la composition élémentaire des échantillons à partir des émissions de rayons X caractéristiques produites par l'échantillon sous excitation de faisceau d'électrons. Cette caractéristique est précieuse pour identifier les matériaux inconnus, détecter les oligo-éléments et étudier la composition chimique des échantillons. En outre, HITACHI S-4500 est compatible avec divers accessoires et logiciels qui améliorent sa fonctionnalité et ses performances. Des accessoires en option tels qu'un étage de cryo pour l'imagerie à basse température, des étages de chauffage d'échantillons pour les expériences in situ et des détecteurs spécialisés pour les techniques d'imagerie avancées peuvent être intégrés de façon transparente avec HITACHI S 4500 pour étendre ses capacités d'analyse. En conclusion, S-4500 microscope électronique à balayage est un instrument de pointe qui repousse les limites de la microscopie avec ses capacités d'imagerie avancées, ses options d'analyse polyvalentes et sa conception conviviale. Utilisée pour la recherche universitaire, l'analyse industrielle ou le contrôle de la qualité, la S 4500 offre des performances et une fiabilité inégalées pour des applications de microscopie exigeantes.