Occasion HITACHI S-4500 #293802907 à vendre en France

HITACHI S-4500 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution dans des conditions d'ultra-haut vide (UHV). Il offre des images de spécimens jusqu'à 30,000X grossissements, ainsi qu'une analyse en profondeur des couches plus profondes. Le SEM est équipé d'une optique électronique à fort grossissement, qui sont nécessaires pour atteindre une résolution inférieure à 0,6 nm. Ceux-ci comprennent une source de filament de tungstène, une chambre de pompage différentiel, un système de lentilles de projecteur, et une série de bobines déflecteurs. De plus, le HITACHI S 4500 dispose d'une chambre d'échantillonnage pré-alignée, d'un système automatique d'insertion et de retrait des échantillons, ainsi que d'un système numérique de correction du mouvement du faisceau pour assurer le plus haut niveau de précision. Pour maximiser les capacités d'imagerie, S-4500 a un faisceau d'électrons qui peut être accordé pour travailler en mode électron secondaire (SE) ou électron rétrodiffusé (ESB). La zone d'imagerie peut également être changée par paliers de 1x1mm à 85x85mm. S 4500 est équipé d'un ensemble de détecteurs qui peuvent fournir des cartes topographiques et de composition élémentaire d'échantillons numérisés. Il s'agit notamment d'un détecteur d'électrons secondaire, d'un détecteur de rétrodiffusion, d'un détecteur d'électrons solarium et d'un détecteur d'électrons Auger laser. En outre, HITACHI S-4500 est conçu pour l'analyse manuelle et automatisée. Il dispose de plusieurs modes d'entrée de commande, y compris le joystick et le contrôle externe de l'étape de spécimen, qui permettent une manoeuvre précise de l'échantillon. Le système comprend également des fonctions automatisées, telles que le piquage d'images, le balayage analytique et un logiciel de traitement puissant. HITACHI S 4500 dispose également d'une mémoire intégrée de 1,2 gigaoctets, qui permet de stocker amplement les données collectées. S-4500 est un SEM à vide ultra-élevé (UHV) conçu pour l'imagerie précise et haute résolution. Il offre une excellente résolution jusqu'à 0,6 nanomètres et fournit également un alignement de faisceau en temps réel pour une analyse précise des échantillons. Le SEM dispose d'un large éventail de détecteurs et de fonctions automatisées pour garantir le plus haut niveau de précision. Avec sa chambre d'échantillonnage pré-alignée, l'insertion et le retrait automatisés des échantillons, et les modes d'entrée de commande, S 4500 est un excellent choix pour la microscopie électronique à balayage précis.