Occasion HITACHI S-4500 #293822131 à vendre en France

HITACHI S-4500 Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil d'imagerie très avancé utilisé pour agrandir les particules, les surfaces et les structures au-delà des capacités de la microscopie lumineuse. Ce microscope est un dispositif inestimable pour acquérir rapidement des images d'échantillons non conducteurs et mesurer avec précision leurs dimensions. HITACHI S 4500 utilise des faisceaux d'électrons dans deux modes différents : le balayage et la transmission. En mode balayage, le faisceau d'électrons est réglé pour balayer la surface de l'échantillon à différentes positions, produisant une série de tranches d'image toujours plus claires pour aider à créer des rendus tridimensionnels. Le mode de transmission est utilisé pour analyser l'épaisseur d'un échantillon ou d'autres structures internes, ce qui permet à l'utilisateur de bien comprendre la composition de l'échantillon. Le SEM génère des images en noir et blanc et en couleur, ce qui permet à l'utilisateur de différencier plus facilement les éléments et les composants. La vitesse d'imagerie est également beaucoup plus rapide que les autres microscopes, capable de prendre jusqu'à 97 images par seconde. Cela permet aux utilisateurs de traiter facilement les images et de générer des rapports numériques complets avec une facilité relative. En plus des capacités d'imagerie, le SEM fournit également la capacité de mesurer la topographie d'un échantillon. Le système de spectroscopie quantitative par rayons X EDAX permet aux utilisateurs d'imaginer et de mesurer la composition élémentaire des échantillons. En combinaison avec l'imagerie optique, les utilisateurs peuvent confirmer la substance et la qualité de l'échantillon. S-4500 présente également une multitude de caractéristiques de conception innovantes, telles que sa chambre à vide, qui permet aux utilisateurs de conserver l'échantillon pendant des heures à la fois. Les systèmes d'imagerie de niveau profond de précision permettent de recueillir des données précises et précises à partir d'échantillons de différentes tailles et formes. Le courant haut faisceau intégré réduit les temps de balayage et d'analyse, améliorant les performances globales et la précision. S 4500 Microscope électronique à balayage est un dispositif révolutionnaire pour l'observation et l'analyse d'une variété de matériaux et de structures. Les capacités précises de mesure, d'imagerie et d'analyse, ainsi que ses nombreuses fonctionnalités de conception innovantes, font de ce SEM un outil idéal pour un large éventail de tâches de recherche.