Occasion HITACHI S-4500 #9137332 à vendre en France

HITACHI S-4500 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) idéal pour une grande variété d'applications dans la recherche industrielle, le contrôle de la qualité et l'analyse des défaillances. Il combine une imagerie haute résolution, un fonctionnement facile à utiliser et d'excellentes capacités de préparation d'échantillons, ce qui en fait un choix idéal pour une variété d'applications. HITACHI S 4500 utilise une gamme de sources de faisceau d'électrons, y compris un canon à tungstène, un canon à émission de champ froid chauffé, un canon filsup et un canon à émission micro-champ, pour fournir une gamme d'options d'imagerie, y compris un mode d'imagerie à double faisceau. Ce mode d'imagerie à double faisceau permet de capturer des images à haute résolution sans avoir besoin de multiples sources de faisceaux d'électrons, ce qui le rend extrêmement efficace et économique. Le SEM offre également une gamme de grossissements, allant de 10x à 500.000x, permettant des études détaillées des structures cristallines, des surfaces et des propriétés des matériaux. S-4500 comporte également un certain nombre de caractéristiques pour faciliter l'examen des échantillons. Un équipement de commande de panneau tactile permet un fonctionnement facile, tandis qu'un système d'échange automatisé d'échantillons permet la commutation rapide entre les échantillons. Le revêtement de surface automatisé, le revêtement par faisceau d'électrons et le revêtement par faisceau d'ions sont également inclus, ce qui permet de revêtir divers échantillons pour l'analyse SEM. De plus, le S 4500 comprend un large éventail d'aides à la détection et à l'imagerie, y compris une unité avancée de détection d'auto-corrélation, une spectrométrie de masse des ions secondaires en temps de vol (TOF-SIMS) et une cryo-étape, permettant une analyse plus approfondie des échantillons. HITACHI S-4500 est équipé d'un certain nombre de logiciels avancés, fournissant des analyses automatisées et des mesures d'échantillons. Il s'agit notamment d'une machine de mesure 3D, d'un outil de cartographie des neutrons et d'un outil d'imagerie aux rayons X, permettant une détection et une mesure rapides et précises des caractéristiques d'un échantillon. En outre, le SEM est équipé d'une série de systèmes auxiliaires pour optimiser l'imagerie et les performances analytiques du modèle. Il s'agit notamment d'un équipement intégré d'isolation des vibrations haute performance, d'une caméra HDTV et d'un détecteur EDS, permettant un flux de travail simplifié. En conclusion, HITACHI S 4500 est un SEM très polyvalent et capable, adapté à une gamme de recherche et d'applications industrielles. Sa gamme de sources de faisceaux d'électrons, ses systèmes d'imagerie et de mesure, et ses capacités automatisées de préparation et d'échange d'échantillons en font un choix idéal pour une variété de besoins de microscopie électronique à balayage.