Occasion HITACHI S-4500 #9169489 à vendre en France
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Vendu
ID: 9169489
Scanning electron microscope (SEM)
Specifications:
Photo CRT:
Ultra high resolution type
Recording area: 120 x 90 mm
Scanning mode:
Normal scan
Split screen / Dual magnification
Line scan
Position setting
Spot
AAF (Analysis area finder)
SAA (Selected area analysis)
Oblique mode
Scanning speed:
0.3, 2, 10, 20 S / Frame for viewing mode
TV, 40,80, 160 S / Frame for photo recording mode
Signal processing / Operation mode:
Automatic brightness & contrast control
Gamma control
Dynamic stigmator monitor
Auto focus
Automatic stigmator
Electrical image shift: ± 20 µm With WD 20 mm
Vacuum system:
Vacuum sequence: Full-auto pneumatic valve system
Ultimate vacuum:
7 x 10-4 Pa (Specimen chamber)
1 x 10-7 Pa (Electron gun chamber)
Vacuum pumps:
Electron optics: (3) Ion pumps
Specimen chamber:
(1) Diffusion pump
(2) Rotary pumps
Compressor
Ion pumps:
IP1= 0.1 x 10-7
IP2= 0.5 x 10-7
IP3= 6 x 10-7
Accessories:
THERMO-SCIENTIFIC EDS Tank
EDS Computer / Controller: No
GW Microchannel:
Control
Detector: No
GW Infrared: Camera control and camera on system
Control panel on SEM
Small manual stage
Performance:
Resolution: 1.5 nm
Accelerating voltage: 30 kV
Working distance: 7 mm
Magnification:
High magnification mode: 50x to 500,000x
Low magnification mode: 20x to 1,000x
Electron optics:
Electron gun: Cold-cathode field emission electron gun
Emission extracting voltage (Vext): 0 to 6.5 kV
Accelerating voltage (Vacc): 0.5 to 30 kV (Variable in 100 V step)
Lens system: 3-Stage electromagnetic lens
Objective aperture:
Movable aperture ((4) Opening selectable / Alignable outside column)
Self-cleaning type thin aperture
Stigmator: Electromagnetic type
Scanning coil: 2-Stage electromagnetic type
Display unit:
CRT: (2) 12" Display monitors including memory unit.
HITACHI S-4500 est un microscope électronique à balayage (SEM) spécialement conçu pour l'imagerie de la surface d'un large éventail d'échantillons, des grands spécimens aux petites microstructures. Avec un grossissement maximal de 270 000 x et une résolution ultra haute de 0,7 nm, HITACHI S 4500 est capable de révéler la grande quantité de détails contenus dans un seul échantillon. S-4500 utilise un objectif semi-apochromatique, composé de deux lentilles à bulles hémisphériques et d'une lentille de projection, pour focaliser le faisceau d'électrons de haute énergie vers un point fin. Le faisceau est balayé à travers l'échantillon dans un diagramme raster et les électrons réfléchis à partir de la surface de l'échantillon sont recueillis dans un détecteur d'électrons. Ces électrons sont ensuite convertis en une image numérique qui sert à construire une représentation 3D de la surface de l'échantillon. S 4500 dispose également d'une fonction de mesure et d'imagerie intégrée automatisée, permettant de prendre des mesures directement à partir des images générées. Cela permet l'analyse quantitative des échantillons, y compris les mesures physiques et les caractérisations électriques. Ces mesures sont cruciales pour un large éventail d'industries et d'applications de recherche. HITACHI S-4500 dispose d'une chambre d'environnement sous vide, permettant son utilisation avec des échantillons qui doivent être examinés sous vide. Ceci est particulièrement important pour l'examen d'échantillons tels que des tissus biologiques et des dispositifs semi-conducteurs. Le SEM contient également un système automatisé d'échange de spécimens qui permet de changer les échantillons rapidement et efficacement sans casser le vide. HITACHI S 4500 produit des images très détaillées qui permettent aux scientifiques et aux ingénieurs d'étudier en détail la surface d'un échantillon donné. Cela leur permet à leur tour d'analyser et d'identifier les défauts, d'analyser la composition des matériaux et de mieux comprendre les micro-structures de divers composants et produits. En tant que tel, S-4500 de HITACHI est un outil de valeur pour beaucoup d'industries, de l'ingénierie automotrice et de la microélectronique à la science de matériel et au fait de bio-refléter.
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