Occasion HITACHI S-4500 #9183139 à vendre en France

ID: 9183139
Scanning electron microscope (SEM) EDX Scanning electron system (Type II) Cold emission FEG 0.5KV - 30KV 1.5mm @ 15KV 4.0nm @ 1KV 6" Load lock (5) Axes manual stages Stage XY range: 100mm x 50mm 25mm Z Tilt: -5° to +60° Includes: Diffusion pump Mechanical pumps Chiller Compressor Transformer.
HITACHI S-4500 Scanning Electron Microscope (SEM) utilise l'optique électronique et la technologie d'imagerie numérique pour effectuer des examens non destructifs des surfaces et des échantillons en vrac avec une grande précision et résolution. L'instrument est capable de recevoir une large gamme de tailles d'échantillons allant de 1mm à 300mm de hauteur, avec des systèmes anti-humidité et anti-gaz. HITACHI S 4500 utilise un canon à électrons pour générer un faisceau d'électrons qui empiètent sur la surface de l'échantillon. L'interaction entre la surface de l'échantillon et le faisceau d'électrons impairs génère des électrons secondaires, des électrons rétrodiffusés et des rayons X, qui à leur tour sont détectés et amplifiés. Les signaux détectés sont ensuite traités pour générer une image de la surface de l'échantillon et de sa composition. S-4500 dispose d'une technologie d'imagerie modernisée, y compris la génération multi-images, l'alignement automatique et la fusion d'images, qui permettent l'acquisition rapide d'images avec une plus grande résolution et une plus grande précision que les SEM classiques. Cette technologie permet également l'utilisation de l'imagerie 3D et de la cartographie. En plus de ses capacités d'imagerie, le S 4500 fournit également une analyse élémentaire précise des échantillons. L'instrument mesure le numéro atomique de l'échantillon, son pourcentage atomique et sa concentration en éléments. Il peut également détecter la présence de matériaux non conducteurs en utilisant un canon à électrons à balayage à émission de champ non conducteur (FESEM). Enfin, HITACHI S-4500 est équipé d'une grande variété d'outils d'imagerie et d'analyse, y compris la microanalyse aux rayons X, l'analyse de surface des émissions de champ d'électrons et l'imagerie de courant induite par faisceau d'électrons, qui peuvent être utilisés pour faciliter les inspections et les processus d'assurance de la qualité. L'instrument contient également une foule de mesures de sécurité telles qu'un système d'interception automatisé et un système d'alerte laser. Le microscope électronique à balayage HITACHI S 4500 est un instrument fiable, convivial et polyvalent qui peut être utilisé pour diverses applications, des études microscopiques aux inspections industrielles. Sa combinaison du fait de refléter et des capacités analytiques rend S-4500 un outil de valeur pour l'examen, l'assurance de la qualité et la recherche.
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