Occasion HITACHI S-4500 #9230713 à vendre en France

HITACHI S-4500 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre des performances élevées et une qualité d'imagerie supérieure. Ce microscope a une capacité d'imagerie avancée qui lui permet de produire des images avec un excellent détail et la clarté. L'environnement à vide élevé créé dans la chambre du microscope permet une analyse et une imagerie approfondies des échantillons, ce qui permet de mieux comprendre leur structure. Le puissant système d'imagerie est composé d'un canon à électrons qui produit un faisceau à échelle fine qui traverse l'échantillon et qui est détecté par le détecteur d'électrons. Le faisceau est alors converti en un signal qui sert à construire une image numérique. Les images produites par HITACHI S 4500 peuvent être très amplifiées et plus détaillées que celles produites par d'autres méthodes traditionnelles de microscopie, permettant une imagerie nanométrique non destructive des matériaux. Le lecteur de numérisation S-4500 permet aux utilisateurs de recueillir rapidement des informations sur un échantillon, ce qui permet une analyse et une imagerie plus rapides des échantillons. Le lecteur est équipé d'une fonction automatisée qui peut détecter automatiquement de petits changements dans la surface de l'échantillon et guider intelligemment le faisceau d'électrons pour produire une image plus détaillée. Le S 4500 est conçu pour être convivial et est équipé de fonctionnalités qui le rendent facile à utiliser. Par exemple, la fonction de revêtement automatique sous vide permet un dépôt rapide et précis sans avoir besoin d'un dégazage manuel, permettant un débit d'analyse plus élevé. HITACHI S-4500 est également équipé de plusieurs fonctionnalités avancées qui permettent aux utilisateurs d'aller au-delà des capacités SEM traditionnelles. Par exemple, le détecteur d'électrons à rétrodiffusion rapide détecte des ions générés à partir de la surface de l'échantillon, permettant une analyse élémentaire de haute qualité. Ce système est également équipé d'un détecteur de rayons X dispersif qui permet aux utilisateurs d'identifier et d'analyser différents types de matériaux dans l'échantillon. Dans l'ensemble, HITACHI S 4500 fournit un système SEM avancé et performant qui est facile à utiliser et permet des capacités d'imagerie et d'analyse supérieures. En utilisant ses puissants systèmes d'imagerie et d'analyse, les utilisateurs peuvent obtenir des informations précieuses sur leurs matériaux et leurs échantillons, permettant une analyse plus précise et plus approfondie.