Occasion HITACHI S-4500 #9235002 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage HITACHI S-4500 est un outil polyvalent pour l'imagerie et la caractérisation d'un large éventail d'échantillons et de matériaux. Ce SEM est un excellent choix pour l'imagerie de routine, les tâches d'analyse des échecs, et plus encore. HITACHI S 4500 dispose d'un détecteur d'électrons à balayage haute résolution ainsi que d'un détecteur de rétrodiffusion. La combinaison de ces deux détecteurs permet l'imagerie haute résolution et l'analyse matérielle d'une variété d'échantillons. S-4500 a également deux lentilles de haut grossissement (jusqu'à 100kX) lui donnant des images extrêmement haute résolution. En outre, le système de lentilles jumelles fournit l'imagerie simultanée et l'analyse spectrale. L'instrument utilise un canon à émission de champ (FEG), un type de source d'électrons qui minimise les artefacts créés par un faisceau d'électrons, permettant une imagerie haute résolution et des détails fins. Il dispose d'un déflecteur de faisceau de rétroaction robuste, permettant à l'instrument de manœuvrer en douceur sur de grandes zones d'échantillonnage. Le système de déflexion permet également à S 4500 de réaliser de nombreuses techniques d'imagerie différentes. HITACHI S-4500 dispose d'une large gamme de têtes de détection indépendantes, permettant l'ajout de détecteurs supplémentaires pour augmenter la sensibilité, le contraste et la résolution. Il dispose également de fonctions de scène automatisées et de navigation visuelle de spécimen. HITACHI S 4500 peut être intégré avec une variété d'accessoires, y compris un porte-cryo pour l'imagerie à basse température, et un rotateur d'échantillons pour permettre l'imagerie 3D. S-4500 est très rentable, avec une excellente qualité d'image et une vitesse d'imagerie rapide. C'est un instrument fiable et facile à utiliser, qui peut être utilisé à la fois pour l'imagerie de routine et l'analyse des défaillances. Il fournit également un excellent support pour l'imagerie 3D et l'analyse élémentaire, permettant à l'utilisateur d'obtenir une compréhension plus approfondie du matériau de l'échantillon.