Occasion HITACHI S-4500 #9410697 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage HITACHI S-4500 (SEM) est un instrument de pointe doté de capacités d'imagerie avancées. Il est capable de capturer des images d'échantillons à des résolutions nanométriques, et est incroyablement sensible aux changements subtils de la topographie de surface. HITACHI S 4500 utilise un faisceau d'électrons comme source d'éclairage, qui est généré à partir d'un canon à électrons. Le faisceau d'électrons est accéléré et focalisé dans un faisceau mince à l'aide de lentilles électromagnétiques. Le faisceau est ensuite balayé sur la surface de l'échantillon et les électrons sont ensuite focalisés à nouveau sur le détecteur d'imagerie, capturant ainsi l'image. S-4500 dispose d'un système d'imagerie numérique et peut acquérir des images haute résolution avec des résolutions de pixels jusqu'à 2 nm et une amplification jusqu'à 2 000 000x. S 4500 dispose de la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) et des capacités de diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD). EDS est capable de fournir une analyse élémentaire des échantillons jusqu'à la gamme submicronique et, lorsqu'il est combiné avec EBSD, il peut analyser les microtextures et la structure des grains des échantillons identifiés. HITACHI S-4500 est adapté à l'imagerie d'un large éventail de matériaux, y compris des échantillons inorganiques, conducteurs et isolants. Il est capable d'aligner automatiquement l'échantillon dans le champ de vision, accélérant ainsi le processus d'imagerie. En outre, HITACHI S 4500 est équipé d'une gamme de modes automatisés, tels que la reconnaissance avancée des fonctionnalités et la capture automatisée d'images multiples. S-4500 est également équipé d'un système automatisé de traitement des données. Cela permet le calcul automatisé de diverses propriétés physiques et d'autres paramètres, tels que la surface, la porosité et la taille du grain d'un échantillon. Le système dispose également d'outils pour mesurer les volumes, la détection des bords et la mesure du profil de surface et de l'élévation. S 4500 est un instrument très polyvalent, capable de réaliser l'imagerie avancée et la métrologie d'une variété d'échantillons. Avec ses capacités d'imagerie avancées, une gamme de fonctionnalités automatisées et des informations détaillées sur l'échantillon, HITACHI S-4500 est un outil inestimable pour les chercheurs et les ingénieurs.