Occasion HITACHI S-4500 #95678 à vendre en France
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ID: 95678
Taille de la plaquette: 2"
Style Vintage: 1994
Scanning Electron Microscope (SEM), 2”
Performance:
Secondary electron image resolution: 1.5 nm at 15kv
Magnification: 20X - 500KX
Electron Optics:
Electron gun: Cold field emmission source
Lens type: electromagnetic
Objective aperture: 4 position externally selectable
Stigmator: Octopole electromagnetic
Scanning coil: 2-stage electromagnetic
Size: Type I
Airlock: prepumped, max sample size:50 mm diameter
Stage motion: 5 axis manual
X/Y: 25 mm, Z: 3-28 mm, T: -5Deg - +45 Deg., R: 360 deg continuous
Draw-out door: Max sample size:150 mm dia.
Display system:
Image display: Dual 12" monitors
Scanning mode: Normal, reduced area , line scan, photo scan, spot position, split screen
Scanning speed: TV, 0.3, 2, 9, 25, 35, 100, 160 320 s/frame
Signal processing:Real-time processing, auto-brightness and contrast control, dynamic stigmator, sutofocus, a Frame averaging, frame integration, contrast conversion,
Vacuum system:
Full automatic operation with pneumatic valve control
Ultimate vacuum: 10 (-7) Pa in electron gun chamber, 10(-4) Pa in specimen chamber
Ion pump: 60 L/s X1, 20 L/s X2
Speciment chamber: DP (570 L/s); Turbo Optional
Foreline: Rotary pump X2
Accessories (Optional)
EDX:at 30 Deg. take off angle
Digital Image capturing: Orion-6 software, Optional
Chilled water circulator: 10 - 20 deg C, 1.0 -1.5 L/m for DP only
Installation
AC: Single phase AC 220 or 240 volt, 50/60 Hz
Grounding: Independent grounding 100 Ohms or less
Currently powered-up
1994 vintage.
HITACHI S-4500 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'analyse avancée des matériaux. Cet instrument est équipé d'une technologie de pointe, y compris un canon à émission de champ froid, des alimentations électriques haute tension et des équipements d'imagerie numérique. HITACHI S 4500 offre une haute résolution pour l'observation et l'imagerie des échantillons à l'aide d'électrons secondaires ou rétrodiffusés. Le canon à émission de champ froid offre des performances extrêmement stables et permet un fonctionnement plus rapide. Il permet également un grossissement à haute résolution des échantillons jusqu'à 30 fraisages. Ce microscope a un taux de rejet de fond élevé et de faibles niveaux d'irradiation, ce qui réduit les dommages de l'échantillon. Les alimentations à haute tension offrent une expérience utilisateur améliorée et la stabilité dans les applications SEM les plus exigeantes. Les alimentations de tension peuvent être coordonnées avec le canon d'émission de champ froid pour fournir les plus hautes performances. Le système d'imagerie numérique permet aux utilisateurs de capturer l'image d'échantillon agrandie sur un magnétoscope numérique ou un ordinateur personnel en se connectant à une carte de capture d'image. Les images sont affichées sur un moniteur TFT de 19 pouces, offrant une meilleure visibilité et commodité. L'unité d'imagerie numérique permet également la gestion, la manipulation et le stockage d'images en temps réel pour une utilisation ultérieure. S-4500 analyse les échantillons à plusieurs angles pour améliorer le contraste et la texture de l'image de l'échantillon. En outre, il est équipé d'outils d'automatisation avancés, y compris la mise au point automatique pour obtenir des résultats d'imagerie optimaux à tout agrandissement. La fonction d'accord assistée par ordinateur peut détecter et ajuster automatiquement les paramètres pour l'image la plus brillante et la plus claire de l'échantillon. Pour une sécurité maximale, la S 4500 est construite avec une machine fermée et est dotée d'une protection ESD. Il comporte également un certain nombre de dispositifs de sécurité, dont un indicateur de rayonnement et un dispositif d'arrêt automatique en cas de danger.
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