Occasion HITACHI S-4700 II #293592008 à vendre en France

HITACHI S-4700 II est un microscope électronique à balayage haut de gamme qui offre de puissantes capacités d'imagerie pour un large éventail d'applications. Il offre un haut degré de précision et de résolution, permettant une visualisation détaillée des objets à l'échelle nanométrique. HITACHI S 4700 II utilise un détecteur différentiel dans la lentille qui permet une collecte de haute qualité des électrons secondaires (SE), des électrons rétrodiffuseurs (ESB) et des électrons de transmission (TE) des surfaces de l'échantillon. Il a un étage de spécimen à double inclinaison avec une plage d'inclinaison de +/- 60 degrés, permettant une flexibilité lors de l'imagerie d'échantillons qui ne sont pas planaires. Il offre également un lecteur de focus motorisé, permettant aux utilisateurs d'ajuster automatiquement le focus des images sans interaction directe avec l'utilisateur. S-4700-II offre un certain nombre de fonctionnalités de traitement d'image, telles que le piquage d'image en temps réel, les montages, l'analyse automatisée des particules, et plus encore. Il offre également une large gamme de capacités d'automatisation, y compris l'accès à distance, l'acquisition automatisée d'images multiples, et la possibilité d'interconnecter des unités S 4700-II pour des opérations à distance. S 4700 II utilise une application de flux de travail open-source, AllView, qui permet aux utilisateurs de gérer, d'analyser et d'archiver facilement de grands ensembles de données. AllView permet aux utilisateurs d'interagir avec les images, de générer des rapports et de partager des données entre les utilisateurs, permettant une compréhension détaillée de l'échantillon et du spécimen. Couplé à ses capacités avancées de numérisation, d'imagerie et de traitement, HITACHI S 4700-II est un outil précieux pour la recherche dans les domaines de la nanotechnologie, de la science des matériaux et de la biotechnologie, avec des capacités d'image d'échantillons allant de cellules uniques à des structures et matériaux complexes. HITACHI S-4700-II fournit aux chercheurs un outil incroyablement puissant et convivial pour l'image et l'analyse d'échantillons au plus haut niveau de précision et de résolution.