Occasion HITACHI S-4700 II #293605918 à vendre en France

ID: 293605918
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
HITACHI S-4700 II est un modèle de microscope électronique à balayage (SEM). C'est un instrument de haute performance qui est utilisé dans le domaine de l'analyse des matériaux. HITACHI S 4700 II offre une variété de caractéristiques qui le rendent idéal pour une gamme d'applications telles que l'observation d'échantillons, l'analyse de composition de surface, l'analyse élémentaire et l'imagerie. S-4700-II dispose d'une chambre à pression variable qui lui permet d'effectuer l'imagerie SEM sous haute dépression ou à pression variable, permettant aux utilisateurs d'examiner des échantillons humides ou lâches sur l'instrument. Il dispose également d'un étage de refroidissement à éléments Peltier avec une plage de température allant de - 80˚C à 100˚C. Ceci permet d'acquérir des images d'échantillons à des températures différentes sans avoir à les transférer à une autre étape. L'instrument dispose également d'un détecteur haute résolution pour l'imagerie haute résolution et l'analyse élémentaire. Son détecteur d'électrons secondaire (à faible vide) possède un grand champ de vision, ce qui le rend idéal pour l'imagerie à grande surface et l'analyse élémentaire. S 4700-II a un système moteur de haute précision qui fournit un niveau impressionnant de stabilité et de précision, permettant la capture d'images avec la plus haute résolution possible. Il est équipé d'une gamme d'étapes et de fonctionnalités automatisées, permettant aux utilisateurs de configurer rapidement l'instrument et d'effectuer des analyses facilement. L'instrument est livré avec une gamme d'outils logiciels pour faciliter l'observation et l'analyse des échantillons. En plus du mode de balayage standard, le S 4700 II offre diverses fonctions avancées telles que la spectroscopie à rayons X dispersifs d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire, l'imagerie électronique rétrodiffusée (BSEI) pour l'imagerie d'éléments Z bas ainsi que l'imagerie en lentille et en lentille SE pour améliorer la résolution d'image. En conclusion, HITACHI S 4700-II est un microscope électronique à balayage avancé qui offre un certain nombre de fonctionnalités et de capacités qui le rendent idéal pour une gamme d'applications dans l'analyse des matériaux. Il dispose d'une chambre à pression variable et d'un étage de refroidissement à éléments Peltier, ainsi que de détecteurs haute résolution et d'outils logiciels pour faciliter l'observation et l'analyse des échantillons. L'instrument est équipé d'un système moteur de haute précision, offrant une excellente stabilité et précision. C'est un choix idéal pour les chercheurs et les scientifiques à la recherche d'un instrument sophistiqué qui peut offrir des images de haute qualité et des données fiables.
Il n'y a pas encore de critiques