Occasion HITACHI S-4700 II #293814500 à vendre en France

ID: 293814500
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) EDAX detecting unit Stage control Trackball control ExB filter Critical Dimension (CD) measurement system Operating System (OS): Windows Column-mounted turbomolecular pump.
HITACHI S-4700 II est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour des applications avancées de microscopie. Les principales caractéristiques du microscope comprennent un équipement intégré de capture d'image, une résolution énergétique supérieure, une imagerie haute résolution jusqu'à × 3000, un large champ magnétique de vue, une optique haute tension, une capacité d'indice de haute tension (HVI) pour l'imagerie haute résolution, et un détecteur VFD (Visual Form Design) unique. De plus, la combinaison du Visual Form Design avec un système « Nanowise » innovant optimise les capacités d'imagerie du microscope. L'unité intégrée de capture d'image de HITACHI S 4700 II offre une imagerie haute résolution et de puissantes fonctionnalités de traitement d'image. Il utilise deux types de détecteurs, le détecteur d'électrons et le détecteur de forme visuelle. Le détecteur d'électrons est idéal pour l'imagerie de structures fines, tandis que le détecteur de forme visuelle permet la visualisation de grandes structures. Avec l'optique haute tension, les images haute résolution peuvent être atteintes. Le champ de vision magnétique large permet à l'utilisateur de visualiser une plus grande surface. La fonction indice de haute tension (HVI) de S-4700-II fournit une imagerie haute résolution jusqu'à × 3000. Cela permet à l'utilisateur d'observer et de distinguer même les plus petits détails d'un échantillon. Avec cette fonctionnalité, l'utilisateur peut ajuster les réglages de tension et de courant pour différents échantillons et obtenir les meilleurs résultats. La machine « Nanowise » améliore encore les capacités d'imagerie du microscope en fournissant des capacités d'analyse d'image avancées. Conçu avec un détecteur VFD (Visual Form Design) unique et convivial, S 4700-II dispose d'un écran intuitif qui permet aux utilisateurs de passer facilement du détecteur d'électrons au VFD. Le détecteur VFD traite et améliore les images, ce qui facilite l'interprétation des images par l'utilisateur. De plus, les capacités de traitement avancées du VFD réduisent le bruit des images, ce qui permet de visualiser les images avec plus de clarté. En conclusion, HITACHI S-4700-II est un microscope électronique à balayage très avancé conçu pour des applications avancées de microscopie. Il intègre un outil de capture d'image, une résolution énergétique supérieure, une imagerie haute résolution jusqu'à × 3000, un large champ magnétique de vision, une optique haute tension, une capacité d'indice de haute tension (HVI) pour l'imagerie haute résolution, et un détecteur VFD (Visual Form Design) unique. De plus, la combinaison du Visual Form Design et de l'actif Nanowise améliore les capacités d'imagerie du microscope. HITACHI S 4700-II offre d'excellentes performances qui en font un choix idéal pour les scientifiques et les chercheurs dans une variété de domaines.
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