Occasion HITACHI S-4700 II #293816532 à vendre en France

HITACHI S-4700 II est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution d'une variété de matériaux. Il est capable de fournir des images très détaillées de tous types de surfaces, des particules simples, aux couches minces, aux sections épaisses. HITACHI S 4700 II utilise une combinaison unique d'optique électronique haute tension et de système optique pour fournir une excellente qualité d'image dans une grande variété de modes d'imagerie, y compris l'imagerie électronique secondaire haute résolution, l'imagerie électronique rétrodiffusée, l'imagerie environnementale et cryogénique, l'analyse dispersive de l'énergie des rayons X, et la composition et la cartographie élémentaire. S-4700-II intègre un large éventail de capacités d'imagerie avancées. L'imagerie haute résolution est réalisée à l'aide d'une combinaison d'un détecteur d'électrons secondaire dans la colonne avec un convertisseur à fort courant à grande entrée. Ce puissant système d'imagerie produit des images détaillées qui sont claires et vives, avec une grande précision et le contraste. En outre, il dispose d'un ensemble unique de détecteurs d'électrons rétrodiffusés, qui profite d'un système optique d'électrons à deux étages pour obtenir un contraste et une résolution élevés dans les images d'électrons rétrodiffusées. S 4700-II est capable d'imagerie environnementale et cryogénique. L'imagerie environnementale permet d'observer des échantillons dans leur milieu naturel, y compris à des températures élevées et dans des atmosphères réactives, tandis que l'imagerie cryogénique permet d'observer des échantillons non conducteurs à des températures aussi basses que 15K. S 4700 II a une cellule fluide intégrée qui est capable d'imagerie sous vide et à pression atmosphérique, et a été optimisé pour l'imagerie d'échantillons biologiques tels que des cellules, des bactéries et des virus sans avoir besoin d'une préparation spéciale d'échantillons. En outre, HITACHI S-4700-II est capable d'analyse et de composition dispersives de l'énergie des rayons X et de cartographie élémentaire. Le détecteur de rayons X est conçu pour offrir une excellente résolution, une grande sensibilité et un débit élevé. Il est capable de cartographier la concentration d'éléments tels que le carbone, l'azote, le soufre, le phosphore, l'aluminium et d'autres métaux. Ces cartes peuvent ensuite être utilisées pour déterminer la composition et la structure de l'échantillon, ainsi que pour donner des indications sur ses propriétés mécaniques, physiques et chimiques. S-4700 II offre une gamme complète de fonctionnalités pour l'imagerie, l'analyse et la préparation des échantillons, ce qui en fait un outil idéal pour les utilisateurs dans les domaines de l'analyse des matériaux, de l'analyse des pannes de circuits, de la recherche en microélectronique et en nanotechnologie, de l'imagerie médicale et du diagnostic, et de l'étude des échantillons biologiques.