Occasion HITACHI S-4700 II #9389830 à vendre en France

HITACHI S-4700 II
ID: 9389830
Scanning Electron Microscope (SEM).
Le microscope électronique à balayage HITACHI S-4700 II (SEM) est un équipement d'imagerie de pointe utilisé dans des applications de recherche et développement, d'assurance qualité et d'analyse des défaillances dans un large éventail d'industries. Il offre une imagerie haute résolution à des grossissements allant jusqu'à 30 000 fois avec un grossissement opérationnel de 1,3 à 500 000 fois. Le système est équipé d'un canon à émission de champ froid (FEG) et a un choix de deux systèmes d'optique électronique, une unité de lumière et une machine à haute performance. Le HITACHI S 4700 II dispose d'un détecteur double unique qui permet le fonctionnement simultané de deux détecteurs. Cette fonction offre une meilleure précision de mesure, une analyse plus rapide et moins de temps de traitement. L'outil de détection analytique comprend un détecteur d'électrons rétrodiffusé pour l'analyse de composition et un détecteur d'électrons secondaire pour l'imagerie tridimensionnelle de surface. L'actif détecteur de lumière, quant à lui, est composé d'un détecteur de lumière pour l'imagerie à grande vitesse et d'un détecteur de champ lumineux pour la cartographie des couleurs des spécimens biologiques. S-4700-II est également équipé d'un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie (EDS) avec un détecteur à quatre éléments et un modèle d'alignement automatique. Cela ajoute à l'efficacité du fonctionnement, rendant inutile l'alignement manuel long. L'EDS permet l'analyse, la détection et l'identification des éléments jusqu'au niveau atomique. Avec ces fonctionnalités efficaces, HITACHI S-4700-II offre le meilleur équilibre possible d'imagerie haute résolution combinée à un traitement de données à grande vitesse. L'équipement automatique d'optique de canon de S 4700-II dispose d'un suivi automatique et d'une commande de focalisation fine pour un réglage précis du faisceau. En outre, le système est capable d'imagerie en mode impulsionnel et de compensation fournie par la dérive (DSC) pour réduire la dérive thermique qui est courante pour recueillir des données avec une grande précision. S-4700 II dispose d'une interface utilisateur graphique intuitive (UI) et d'une fonction macro automatique qui améliore l'efficacité opérationnelle. L'interface graphique permet une navigation sans effort du logiciel et l'acquisition d'images très détaillées à partir de grandes zones spécimennes telles que des circuits ou des cellules biologiques. S 4700 II est le microscope électronique à balayage idéal pour les chercheurs et les ingénieurs qui ont besoin d'une imagerie haute résolution combinée à une automatisation efficace et à un fonctionnement convivial. Avec sa précision, sa vitesse et ses capacités analytiques, HITACHI S 4700-II offre la meilleure expérience de microscopie électronique à balayage avec sa combinaison de fonctionnalités avancées.
Il n'y a pas encore de critiques