Occasion HITACHI S-4700 II #9395237 à vendre en France

HITACHI S-4700 II est un microscope électronique à balayage (SEM) avec des performances supérieures et des fonctionnalités avancées. Il a été conçu pour répondre aux exigences de la microscopie électronique à balayage de niveau professionnel et de l'analyse des matériaux. HITACHI S 4700 II combine des capacités d'imagerie et d'analyse haute résolution avec un large éventail de techniques de préparation d'échantillons. S-4700-II a une conception double canon, offrant une meilleure résolution et un plus grand contraste. Il est équipé d'un canon à électrons avec un courant d'émission jusqu'à 10 nA et une tension de canon jusqu'à 10 kV. Il a une tension d'accélération qui peut être réglée en 1 V pas sur une plage de 1-30 kV. La tension d'accélération peut être encore affinée en 1 V incréments entre 1-10 kV. La tension d'accélération utilisée par ce microscope peut affecter la qualité des images et les résultats d'analyse. S 4700-II offre un choix de détecteurs comprenant un détecteur de processeur de signal numérique (DSP), un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) et des détecteurs d'électrons secondaires basse tension (LVSEM). Il peut également être équipé d'un spectromètre à rayons X dispersif en énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire. HITACHI S-4700-II dispose d'un mécanisme automatisé de changement d'échantillon avec jusqu'à six porte-échantillons. En faisant plusieurs porte-spécimens, il peut gagner beaucoup de temps. S 4700 II a une variété de modes d'imagerie, y compris le champ lumineux, les électrons secondaires, les électrons rétrodiffusés, la cathodoluminescence et l'imagerie par spectroscopie de masse. S-4700 II peut être utilisé à la fois pour l'émission sur le terrain et le balayage à pression variable. Il est capable de réaliser une variété de techniques de préparation d'échantillons incluant le broyage ionique, la gravure chimique, le revêtement et la gravure par pulvérisation. Le SEM dispose également d'une fonction d'automatisation assistée par ordinateur (CAE) « SEI-Monitor » qui facilite le fonctionnement. Cette fonctionnalité garantit la plus haute qualité d'image en fixant automatiquement des conditions d'imagerie optimales. HITACHI S 4700-II propose également une série de logiciels de communication qui permettent à l'analyste d'analyser les images rapidement. HITACHI S-4700 II offre de nombreux avantages, notamment une meilleure résolution, une large gamme de techniques de préparation d'échantillons, un mécanisme automatisé de changement d'échantillon et un meilleur contraste. C'est un outil fiable pour l'analyse professionnelle et l'imagerie, et ses fonctionnalités avancées le rendent utile pour de nombreuses applications.