Occasion HITACHI S-4700 Type I #293597105 à vendre en France

ID: 293597105
Scanning Electron Microscope (SEM) EDS.
Le microscope électronique à balayage HITACHI S-4700 de type I (SEM) fournit une imagerie de microscopie à haute résolution et une analyse d'éléments composites. Il dispose d'une résolution d'image détaillée jusqu'à 10 nm, avec un champ de vision jusqu'à 90mm de diamètre. Le microscope possède des caractéristiques avancées telles qu'un canon à électrons refroidi à l'azote liquide, une grande capacité de chambre et un courant de faisceau d'ions élevé de 45mA. S-4700 Le type I offre une gamme de techniques d'imagerie, y compris la TEC (capture thermique d'électrons), l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB), la diffraction optique, la SE (imagerie électronique secondaire) et l'EBIC (courant induit par le faisceau d'électrons). Il est également équipé de lithographie e-beam, qui permet la génération de structures 3D précises. L'équipement est configuré avec un système d'imagerie numérique spécial, le ADC (contrôle analogique-numérique) qui aide à l'acquisition d'images numériques de plus grande fidélité que celles obtenues à partir de méthodes analogiques. HITACHI S-4700 Type I est également très polyvalent, permettant la manipulation directe d'échantillons avec la même précision et la même précision que les SEM traditionnels. De plus, l'unité est équipée d'un détecteur STM (scanning tunnel microscope) ainsi que d'un détecteur EDX (energy dispersive X-ray) pour l'analyse chimique de divers éléments et phases. De plus, le microscope peut être intégré aux ordinateurs pour assurer la télécommande et l'automatisation. Intégré avec des caractéristiques de pointe et un contrôle précis, S-4700 Type I en fait un choix inestimable pour un large éventail d'applications industrielles et académiques. Avec des performances, une fiabilité et une évolutivité supérieures, la machine constituera un ajout précieux et permettra aux chercheurs et aux scientifiques d'explorer les paramètres microstructuraux des matériaux et composants avancés.
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