Occasion HITACHI S-4700 Type I #293604809 à vendre en France

HITACHI S-4700 Microscope électronique à balayage de type I (SEM) est un dispositif d'imagerie qui utilise des faisceaux d'électrons focalisés pour agrandir et analyser la structure des échantillons. Il a une haute résolution et offre un large éventail de possibilités pour l'inspection visuelle et l'analyse microscopique. Le S-4700 utilise un canon à électrons pour générer un faisceau d'électrons étroitement focalisé, contrôlé par un système de lentilles magnétiques. Le canon à électrons est une chambre à vide contenant un anti-cathode qui produit des électrons. Ce faisceau d'électrons est alors mobilisé à travers l'échantillon dans un diagramme de balayage et les interactions entre électrons et atomes de surface de l'échantillon produisent des signaux secondaires, qui sont captés par le détecteur d'électrons et interprétés pour produire une image. En plus de l'imagerie, le S-4700 permet l'analyse élémentaire de la composition chimique d'un échantillon en utilisant soit la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS), soit la spectroscopie dispersive de longueur d'onde (WDS). Le S-4700 a une résolution d'imagerie ultime de 2nm à 20kV, ce qui le rend utile pour une grande variété d'applications, de l'observation de la surface lisse des plaquettes semi-conductrices à l'inspection de l'intérieur des nanofils. Ce microscope est également capable d'observer des échantillons non conducteurs, ce qui le rend particulièrement adapté à diverses applications industrielles. Le S-4700 offre également des capacités d'imagerie sous vide, permettant à l'opérateur de visualiser des échantillons sans préparation d'échantillon. Ceci est réalisé en introduisant une pompe dans la chambre d'échantillonnage, ce qui crée un vide basse pression pour éliminer la nécessité d'un revêtement sous vide sur l'échantillon avant l'imagerie. Parmi les autres caractéristiques du S-4700, mentionnons l'Autofocus, les étapes motorisées, les suites de gestion d'images et les logiciels d'analyse de données, qui permettent aux scientifiques et aux ingénieurs d'effectuer des analyses rapides, précises et précises. Dans l'ensemble, S-4700 Type I SEM facilite la capture, l'analyse et l'interprétation des images des caractéristiques les plus minuscules de n'importe quelle surface d'échantillon. C'est un instrument d'imagerie fiable et polyvalent adapté à de multiples applications de microscopie.