Occasion HITACHI S-4700 Type I #9396172 à vendre en France

HITACHI S-4700 Microscope électronique à balayage de type I (SEM) est un SEM de pointe qui offre d'excellentes capacités d'imagerie, en particulier dans le domaine de la science des matériaux. Il fournit une imagerie inégalée avec des fonctionnalités d'imagerie avancées, et son puissant logiciel d'analyse permet aux utilisateurs d'effectuer une analyse détaillée des échantillons. Ce SEM comprend un canon à électrons, une optique électronique et un étage d'échantillonnage. Le canon à électrons est une source ponctuelle focalisée de particules chargées, capable de produire des faisceaux d'électrons à haute énergie à haute densité de courant. Il comprend une chambre d'échantillon qui abrite le canon à électrons, l'optique électronique et l'étage d'échantillon. L'optique électronique contient plusieurs ensembles de lentilles et de déflecteurs, qui façonnent et dirigent le faisceau d'électrons. L'étage d'échantillonnage est une plate-forme à vide élevé qui permet à l'utilisateur de positionner et de faire tourner précisément l'échantillon à observer. S-4700 Le type I utilise un dispositif d'imagerie à couplage chargé (CCD) pour convertir un signal de faisceau d'électrons en une image visible. Ce dispositif d'imagerie capture des images rapidement et efficacement et produit des images propres et à haute résolution. En outre, ce SEM dispose d'une pièce jointe en option aux rayons X dispersifs d'énergie (EDX), qui permet aux utilisateurs d'effectuer une microanalyse aux rayons X sur leurs échantillons. HITACHI S-4700 Type I est équipé d'une interface utilisateur graphique (UI) haute performance et facile à utiliser pour contrôler tous les aspects du microscope. L'interface graphique comprend des fonctions cruciales telles que la manipulation d'image, les outils de mesure d'image, la collecte de données et les tâches d'analyse. Il permet également aux utilisateurs de personnaliser jusqu'à quatre paramètres de fonctionnement pour chaque échantillon, tels que le grossissement, la longueur d'onde du canon, la tension et le courant, ainsi que des paramètres réglables tels que la vitesse de balayage et la vitesse de balayage. S-4700 Type I offre une gamme d'applications pratiques, telles que la cartographie automatique SEM, la reconstruction analytique 3D, le dimensionnement des particules et l'imagerie des nanoparticules, et l'analyse morphologique, le tout avec une excellente résolution et précision d'image. Ses capacités analytiques supérieures en font un outil idéal pour des applications telles que la science des matériaux, les nanomatériaux et la surveillance de l'environnement. HITACHI S-4700 Type I est bien adapté à la fois pour la recherche et les laboratoires industriels, offrant un SEM fiable, abordable et très efficace pour toutes les applications.