Occasion HITACHI S-4700 Type II #293587272 à vendre en France

HITACHI S-4700 Type II
ID: 293587272
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
HITACHI S-4700 Type II est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir une imagerie haute résolution de spécimens avec un grossissement maximal de 300 000 fois. Il dispose d'un nouveau design anti-vibrations pour réduire les vibrations et améliorer la qualité d'image. HITACHI S 4700 TYPE II est un équipement modulaire qui comprend des étages d'échantillonnage, un système optique et un grossissement progressif. L'unité optique comprend un canon à électrons, des lentilles à colonnes, un objectif et une machine d'imagerie. Les étages d'échantillons sont mobiles et peuvent accueillir un large éventail de tailles d'échantillons. Les capacités de grossissement progressif fournissent une image haute résolution de la zone détaillée avec un grossissement maximum de 300 000 fois. Les fonctions intégrées d'analyse d'image permettent une manipulation et une analyse des données rapides et faciles. S-4700 Type II est également équipé d'un détecteur de zone et d'un outil de traitement du signal pour améliorer la qualité de l'image. Le détecteur de zone permet une plus grande plage de détection des pics de signal et des vallées, tandis que l'actif de traitement du signal permet un traitement ultérieur du signal, des corrections de distorsion, et une variété d'angles de visualisation. Le traitement du signal du détecteur améliore la résolution de contraste et de contraste, permettant une vue plus détaillée des caractéristiques de l'échantillon. Ce SEM permet aux utilisateurs de capturer des images vives et contrastées de l'échantillon en combinant diverses fonctions de traitement d'image telles que le contraste, la luminosité et les vues amplifiées. En plus de l'imagerie haute résolution, la S 4700 TYPE II est également équipée d'un modèle d'imagerie à large champ de vision. Cet équipement peut augmenter la profondeur de focalisation du spécimen tout en fournissant une imagerie haute résolution. Le large champ de vision permet de capturer des détails fins dans l'échantillon à partir d'une grande zone. Il a également une variété de modes de contraste tels que l'inversion de contraste et l'étirement de contraste, qui peut être utilisé pour améliorer le contraste d'image et révéler des détails plus fins. HITACHI S-4700 Type II offre également une variété de méthodes de préparation de spécimens. Le pulvérisateur intégré peut revêtir uniformément les surfaces des échantillons, ce qui permet une analyse à plusieurs niveaux de la substance et une meilleure qualité d'image. La double source d'ionisation permet l'analyse d'espèces chimiques et le détecteur d'électrons rétrodiffusés permet une analyse topographique détaillée de l'échantillon. HITACHI S 4700 TYPE II est un outil précieux pour la recherche, l'analyse et la documentation de spécimens extrêmement petits. Avec sa conception et ses capacités avancées, ce SEM est idéal pour toute application nécessitant une imagerie haute résolution et une analyse détaillée des spécimens.
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