Occasion HITACHI S-4700 Type II #293602528 à vendre en France
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ID: 293602528
Style Vintage: 2001
Scanning Electron Microscope (SEM)
Secondary electron resolution:
2.1 nm at 1 kV
1.5 nm at 15 kV and WD: 12 mm or X-ray analysis position
Backscattered electron resolution: 3.0 nm at 15 kV with YAG detector
Magnification:
LM: 20-2,000x
HM: 100-800,000x
Specimen stage:
X-Axis: 0-100 mm
Y-Axis: 0-50 mm
Z-Axis: 1.5-30 mm
Tilt: -5 - +60°
R: 360°
Trackball operation
5-Axis motorization
Vacuum: Diffusion pump
2001 vintage.
HITACHI S-4700 Type II est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre une imagerie haute résolution. Ce produit particulier est destiné aux utilisateurs qui s'intéressent à l'imagerie de divers matériaux électroniques, tels que les semi-conducteurs, les micro-dispositifs, les cartes de circuits, et plus encore. Ce microscope permet aux chercheurs d'observer plus de détails que jamais à une résolution beaucoup plus élevée. Il utilise la détection primaire et secondaire d'électrons, permettant des images précises même à très petite échelle. HITACHI S 4700 TYPE II est un SEM de bureau qui comprend une source d'électrons refroidi par air, qui aide à maintenir l'imagerie cohérente avec peu d'effort. Le microscope a un grossissement maximum de 2000x, ce qui se traduit par des détails extrêmement fins dans les images. Ce microscope a également une variété de caractéristiques conçues pour rendre le processus d'imagerie plus lisse, comme un détecteur d'électrons rétrodiffuseurs à basse énergie, un monochromateur haute résolution, et un équipement porte-échantillons robotique. S-4700 Le type II est capable d'analyser divers matériaux, quelle que soit l'épaisseur ou la topologie de surface de l'échantillon. Ce modèle est bénéfique pour les chercheurs qui doivent analyser tout matériau d'une épaisseur inférieure à un micron. Le microscope est équipé d'une variété de capteurs et de caractéristiques, tels qu'un canon à électrons à balayage de ligne, un système à 25 étages plans, une unité de revêtement au chrome, un détecteur d'électrons à rétrodiffusion grand angle et un manipulateur à 5 axes. En plus de ses capacités d'imagerie, le S 4700 TYPE II est également capable d'analyser la composition chimique et les caractéristiques électriques. Le spectromètre intégré peut être utilisé pour acquérir des informations sur la composition chimique, et la machine secondaire de détection d'électrons est capable d'acquérir des images détaillées à une résolution plus élevée que jamais. Le microscope comprend également la capacité d'analyser les potentiels de surface, faisant de HITACHI S-4700 Type II un outil puissant pour ceux qui étudient les phénomènes de surface. Enfin, le HITACHI S 4700 TYPE II peut être configuré à distance et contrôlé à partir de pratiquement n'importe où, ce qui le rend adapté à la surveillance et au contrôle à distance. Cela en fait un choix idéal pour ceux qui ont besoin de garder le contrôle sur leur SEM, même s'ils sont loin du laboratoire. S-4700 Le type II est un instrument de pointe conçu pour répondre aux besoins de ceux qui ont besoin d'étudier des matériaux et des objets à petite échelle. Ses caractéristiques et ses capacités en font un outil puissant pour l'imagerie de matériaux et l'obtention d'informations utiles sans sacrifier l'exactitude ou la qualité.
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