Occasion HITACHI S-4700 Type II #9234231 à vendre en France

HITACHI S-4700 Type II est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit des capacités d'imagerie supérieures avec une large gamme de fonctions analytiques. C'est un excellent choix pour la recherche scientifique, l'industrie et les applications en laboratoire. L'équipement dispose d'un pistolet à incandescence en tungstène 200kV avec une grande profondeur de détecteur de champ qui permet l'analyse détaillée d'une large gamme d'échantillons. La haute résolution et la capacité d'image des échantillons épais font HITACHI S 4700 TYPE II idéal pour l'imagerie et l'analyse d'une large gamme de matériaux, y compris les métaux, la céramique et les produits organiques. S-4700 Le type II utilise un système d'imagerie numérique de pointe capable de stocker un grand nombre d'images, ainsi que des fonctionnalités telles que la fusion, le filtrage, l'enregistrement vidéo et la couture d'images. Il intègre également une capacité de recherche intelligente pour la recherche rapide des images sauvegardées. Avec un moniteur couleur haute résolution et une interface tactile conviviale, le S 4700 TYPE II rend l'imagerie de qualité simple et intuitive. L'unité comprend également plusieurs technologies d'analyse, dont la spectrométrie dispersive d'énergie aux rayons X (EDS) et l'imagerie électronique secondaire (SE), afin de fournir des informations élémentaires et chimiques complètes sur un échantillon. La capacité d'effectuer l'imagerie en direct et l'optimisation dynamique de l'image garantit une qualité d'image optimale. En plus des capacités d'imagerie standard, HITACHI S-4700 Type II est équipé d'une étape automatisée à haut débit qui peut traiter plusieurs échantillons en même temps. L'étape peut se déplacer rapidement entre les échantillons et ajuster automatiquement le courant SEM et les réglages de grossissement, donnant des images précises et propres. Un avantage majeur de la HITACHI S 4700 TYPE II est sa colonne ionique Portavis, qui offre une précision et une qualité de dépôt du faisceau d'ions supérieures à celles des autres SEM. La machine est également compatible avec un mandrin de plaquette automatisé qui est conçu pour assurer une planéité parfaite, améliorant la précision et la répétabilité lors de l'analyse des semi-conducteurs. Enfin, un outil sous vide, mélange de gaz He/Ar et étape cryogénique sont tous des caractéristiques standard inclus avec S-4700 Type II, donnant aux utilisateurs plusieurs options pour préparer leurs échantillons. Dans l'ensemble, le S 4700 TYPE II est un excellent choix pour toute application nécessitant des capacités d'imagerie supérieures, un traitement automatisé des échantillons et des fonctions d'analyse fiables. Avec son large éventail de fonctionnalités et de capacités, HITACHI S-4700 Type II est capable de fournir des résultats fiables et précis pour une grande variété de matériaux.