Occasion HITACHI S-4700 Type II #9299922 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage HITACHI S-4700 de type II (SEM) est un puissant instrument de recherche utilisé pour analyser la microstructure d'un objet à des grossissements très élevés. Le microscope produit une grande variété d'images, de la topographie de surface à la structure interne de l'échantillon, permettant une analyse approfondie de sa composition et de ses propriétés. Le microscope offre également une large gamme d'électronique secondaire et analytique. Avec le détecteur d'électrons secondaire, on peut comprendre les caractéristiques de surface à des grossissements très élevés. Le détecteur d'analyseur, quant à lui, permet à l'utilisateur de détecter la lumière et les éléments chimiques de l'échantillon. De plus, l'installation de spectrométrie dispersive d'énergie (EDS) effectue une analyse des rayons X. Le microscope est équipé d'un détecteur d'électrons secondaires à haute sensibilité et à résolution fine, qui détecte et affiche toute une gamme d'informations. L'appareil photo numérique haute résolution permet à l'utilisateur de capturer des images rapidement et efficacement. HITACHI S 4700 TYPE II SEM comprend un équipement TGT (Target Gas Injection) entièrement motorisé et à vide élevé. Cette caractéristique crée un faisceau plus grand entraînant moins de divergence de faisceau et une focalisation plus étroite du faisceau d'électrons. Le système optique de l'instrument est capable de générer un champ d'imagerie jusqu'à 27mm, supportant des grossissements jusqu'à 1840x. De plus, le microscope a été conçu pour fournir une surface de travail stable et précise. Pour ce faire, des courbes douces et de petites écailles sont utilisées sur l'étape de l'échantillon. Le scanner XYZ, l'étage interférométrique laser et l'unité motorisée permettent à l'utilisateur de configurer avec précision les mesures. L'interface de contrôle conviviale du logiciel permet aux utilisateurs d'accéder rapidement et facilement aux paramètres du SEM. Parallèlement, les cycles de numérisation, les données de numérisation et les paramètres de la zone de numérisation peuvent tous être modifiés instantanément. Cette machine permet de configurer facilement les paramètres d'imagerie et d'observer les résultats. Le détecteur de surface de S-4700 Type II SEM fournit également des données de toutes les 3 dimensions, qui peuvent être utilisées pour mesurer avec précision les caractéristiques topographiques. De plus, la possibilité d'utiliser des masques visuels ou graphiques en combinaison avec l'adaptateur de position (PA) permet à l'utilisateur d'effectuer une analyse spécifique à une zone ou à une ligne. Dans l'ensemble, le SEM S 4700 TYPE II est un outil de recherche avancé qui offre une vaste gamme de capacités d'imagerie. Grâce à sa rétroaction visuelle rapide et à son fonctionnement efficace, le microscope est adapté à des études dans des domaines tels que la biologie, la science des matériaux et la technologie des semi-conducteurs.