Occasion HITACHI S-4700 Type II #9299929 à vendre en France

HITACHI S-4700 Type II est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie et l'analyse de tous les types de matériaux. Ce SEM est doté d'un détecteur d'électrons secondaires dans les lentilles et d'une colonne électronique nouvellement conçue. La colonne d'électrons produit des images à haute résolution avec de faibles niveaux de bruit. La gamme de grossissement du HITACHI S 4700 TYPE II peut atteindre jusqu'à 500 000 x, ce qui le rend adapté à une variété d'applications. Le modèle dispose également d'un grand détecteur de profondeur de champ avec une cathode d'émission de champ, assurant une grande stabilité de l'échantillon et le bruit le plus faible possible. En outre, le système comprend un système de positionnement des échantillons au laser qui permet d'aligner de façon répétable et fiable les emplacements des échantillons. S-4700 Le type II est également équipé d'un ensemble de détecteurs et d'outils d'analyse automatisés, y compris la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) et la spectroscopie de cathodoluminescence (CL), pour une analyse approfondie des échantillons examinés. Conçue pour le positionnement manuel des échantillons, la S 4700 TYPE II dispose d'un alignement et d'un mouvement automatisés des échantillons sur les axes x, y et z. De plus, la grande chambre de spécimen du modèle lui permet d'imiter et d'analyser des échantillons jusqu'à 200mm en travers. Une variété d'accessoires optiques, tels qu'une tête de contraste d'interférence différentiel (DIC), un visionneur stéréo et un analyseur de polarisation, sont également disponibles pour l'observation améliorée des échantillons. HITACHI S-4700 Type II est compatible avec une variété d'ordinateurs, permettant aux utilisateurs de transférer rapidement et facilement des images et des données. Ce SEM est le choix idéal pour la recherche avancée car il est capable d'imager et d'analyser des échantillons jusqu'au niveau du nanomètre.